Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie

dc.contributor.author	Ondřej, Man	cs
dc.contributor.author	Kolíbalová, Eva	cs
dc.date.accessioned	2024-10-25T07:42:32Z
dc.date.available	2024-10-25T07:42:32Z
dc.date.created	2024-05-30	cs
dc.description.abstract	Electron microscopy basics. Elektronová mikroskopie je technika určená především pro získávání snímků s vysokým rozlišením pomocí urychleného elektronového paprsku k sondování zkoumaného vzorku. Po absolvování tohoto kurzu se seznámíte s pojmem rozlišení	cs
dc.format	text	cs
dc.format.extent	4	cs
dc.format.mimetype	application/pdf	cs
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/11012/249697
dc.publisher	VUT v Brně	cs
dc.relation.projectId	NPO_VUT_MSMT-16609/2022
dc.relation.uri	https://www.vut.cz/vav/projekty/npo	cs
dc.rights	Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International	cs
dc.rights.access	openAccess	cs
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/	cs
dc.subject	elektronová mikroskopie	cs
dc.subject	SEM	cs
dc.subject	měření vzorků	cs
dc.subject	defekty	cs
dc.subject	elektronová optika	cs
dc.title	Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie	cs
dc.type.driver	other	en
dc.type.version	publishedVersion	en

Now showing 1 - 1 of 1