Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie
Loading...
Date
Authors
Ondřej, Man
Kolíbalová, Eva
ORCID
Advisor
Referee
Mark
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
VUT v Brně
Abstract
Electron microscopy basics. Elektronová mikroskopie je technika určená především pro získávání snímků s vysokým rozlišením pomocí urychleného elektronového paprsku k sondování zkoumaného vzorku. Po absolvování tohoto kurzu se seznámíte s pojmem rozlišení
Description
Citation
Document type
Document version
Published version
Date of access to the full text
Language of document
Study field
Comittee
Date of acceptance
Defence
Result of defence
Document licence
Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International
http://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/
http://creativecommons.org/licenses/by-sa/4.0/