Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie
Loading...
Date
Authors
Ondřej, Man
Kolíbalová, Eva
Advisor
Referee
Mark
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
VUT v Brně
ORCID
Abstract
Electron microscopy basics. Elektronová mikroskopie je technika určená především pro získávání snímků s vysokým rozlišením pomocí urychleného elektronového paprsku k sondování zkoumaného vzorku. Po absolvování tohoto kurzu se seznámíte s pojmem rozlišení
Description
Keywords
Citation
Document type
Document version
Published version
Date of access to the full text
Language of document
Study field
Comittee
Date of acceptance
Defence
Result of defence
DOI
Collections
Endorsement
Review
Supplemented By
Referenced By
Creative Commons license
Except where otherwised noted, this item's license is described as Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International

