Kurz z oblasti metrologie a analýzy defektů - základy elektronové mikroskopie

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Ondřej, Man
Kolíbalová, Eva

Advisor

Referee

Mark

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

VUT v Brně

ORCID

Abstract

Electron microscopy basics. Elektronová mikroskopie je technika určená především pro získávání snímků s vysokým rozlišením pomocí urychleného elektronového paprsku k sondování zkoumaného vzorku. Po absolvování tohoto kurzu se seznámíte s pojmem rozlišení

Description

Document type

Document version

Published version

Date of access to the full text

Language of document

Study field

Comittee

Date of acceptance

Defence

Result of defence

DOI

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Creative Commons license

Except where otherwised noted, this item's license is described as Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International
Citace PRO