Vytvoření počítačové aplikace pro ovládaní fotoluminiscenčního mapovaní

Abstract

Tato diplomová práce se zabývá vývojem počítačové aplikace pro řízení experimentální sestavy určené k mapování fotoluminiscence (PL) a časově rozlišitelné fotoluminiscence (TRPL) s vysokým prostorovým rozlišením. Motivací je potřeba detailní charakterizace optoelektronických vlastností perovskitových materiálů, které díky své morfologické a fotofyzikální heterogenitě vykazují prostorově proměnné vlastnosti zásadní pro jejich funkčnost v solárních článcích a jiných optoelektronických zařízeních. Zatímco běžná měření PL a TRPL se často provádějí bodově, vyvinutý systém umožňuje automatizované mapování těchto vlastností napříč vzorkem. Aplikace byla navržena pro přímé ovládání všech komponent experimentální sestavy, umožňuje sběr, zpracování i vizualizaci dat v reálném čase. Funkčnost softwaru byla ověřena na referenčních perovskitových vzorcích CsPbBr$_3$. Práce přináší nejen nový nástroj pro výzkum PL/TRPL, ale i základ pro budoucí rozšíření měřicích technik pod difrakačním limitem.

This master's thesis presents the development of a computer application for controlling an experimental setup dedicated to high-resolution photoluminescence (PL) and time-resolved photoluminescence (TRPL) mapping. The motivation stems from the need for precise optoelectronic characterization of perovskite materials, whose structural and photophysical heterogeneity strongly affects their performance in solar cells and other optoelectronic devices. While conventional PL/TRPL measurements are typically often conducted at single points, the developed system enables automated spatial mapping of these properties across the sample. The application was designed to control all components of the setup and supports real-time data acquisition, processing, and visualization. The functionality of the software was validated using CsPbBr perovskite nanocrystals as calibration samples. This work contributes not only a novel tool for PL/TRPL research, but also a foundation for expanding subdiffraction optical characterization techniques.