Testování integrovaných analogových násobiček
Loading...
Date
Authors
Stolařová, Hana
Advisor
Referee
Mark
B
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
ORCID
Abstract
Tato diplomová práce se zabývá návrhem testovacího přípravku (dále jen testeru) pro základní ověření parametrů i aplikací s analogovými násobičkami vyrobenými v procesu TSMC 0.18 m 1.8 V, který je následně použitý při experimentálním ověřování. Výstup ověřování zahrnuje kmitočtové charakteristiky, stejnosměrné charakteristiky, zkreslení, offset a charakteristiky vstupní a výstupní impedance. Součástí jsou také návrhy možných aplikací s analogovými násobičkami (generátor trojúhelníkového a obdélníkového průběhu, aktivní filtr 2. řádu, integrátor, atd.).
This diploma thesis deals with the design of testing device (tester) for basic verification of parameters and construction of applications using analog multipliers fabricated in TSMC 0.18 m 1.8 V process. The tester is than used for several eperimental measurements such as AC responses, DC responses, total harmonic distortion, offset and input and output impedance. A part of the thesis covers also designs of application examples (circuits) wich use these special analog multipliers (triangular and square wave generator, 2nd order active filter, integrator, etc.).
This diploma thesis deals with the design of testing device (tester) for basic verification of parameters and construction of applications using analog multipliers fabricated in TSMC 0.18 m 1.8 V process. The tester is than used for several eperimental measurements such as AC responses, DC responses, total harmonic distortion, offset and input and output impedance. A part of the thesis covers also designs of application examples (circuits) wich use these special analog multipliers (triangular and square wave generator, 2nd order active filter, integrator, etc.).
Description
Keywords
analogové násobičky , ASIC , kmitočtové charakteristiky , ochranná opatření , offset , simulace , stejnosměrné charakteristiky , testování a měření , TSCM 0.18 m 1.8 V , zkreslení , AC responses , analog multiplier , ASIC , DC responses , offset , precautions , simulation , testing and measuring , TSCM 0.18 m 1.8 V , total harmonic distortion
Citation
STOLAŘOVÁ, H. Testování integrovaných analogových násobiček [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2022.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
bez specializace
Comittee
doc. Ing. Jiří Petržela, Ph.D. (předseda)
doc. Ing. Ladislav Polák, Ph.D. (místopředseda)
Ing. Tomáš Mikulášek, Ph.D. (člen)
Ing. Karel Fliegel, Ph.D. (člen)
Ing. Michal Pokorný, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2022-06-07
Defence
Studentka prezentuje výsledky a postupy řešení své diplomové práce.
Otázky:
doc. Ing. Jiří Petržela, Ph.D.
Požadavek na vysvětlení nejasností v grafu v prezentaci. Studentka vysvětluje chybu, která se vyskytuje v grafu a slovně ji opravuje.
Byl tvořen simulační model v PSpice? Studentka nerealizovala simulační model.
doc. Ing. Ladislav Polák, Ph.D.
Byl zjištěn zásadní rozdíl mezi měření jednotlivých čipů? Studentka vysvětluje problematiku výrobního procesu a jeho vliv na vyrobené čipy.
Dotaz na měřicí aparaturu. Studentka popisuje proces měření a zpracování výsledků. Zároveň na grafech ukazuje rozdíly při měření různými prostředky.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena