Konstrukce nízkoteplotních ultravakuových rastrovacích sondových mikroskopů

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
P
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Předkládaná práce se zabývá vývojem rastrovacích sondových mikroskopů. Jsou specifikovány mechanické požadavky na mikroskop pro měření metodou rastrovací tunelovací mikroskopie (STM) a mikroskopie atomárních sil (AFM) v prostředí ultra vysokého vakua (UHV) a proměnných teplot. Jsou diskutována konstrukční řešení dvou {navržených} mikroskopů a je popsána jejich řídicí elektronika. Zvláštní kapitola je věnována popisu lineárních piezomanipulátorů a konstrukčnímu řešení navržených prototypů.
This thesis deals with the development of scanning probe microscopes. Mechanical requirements for microscopes using measuring methods of scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) under enviroments of an ultrahigh vacuum (UHV) and variable temperatures are specified. Mechanical designs of two microscopes are discussed and their control electronics described. A special chapter is devoted to description of linear piezo manipulators and mechanical design of these prototypes.
Description
Citation
PAVERA, M. Konstrukce nízkoteplotních ultravakuových rastrovacích sondových mikroskopů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2015.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální a materiálové inženýrství
Comittee
prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc. (předseda) Mgr. Petr Klapetek, Ph.D. (člen) Mgr. Aliaksei Vetushka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) doc. Ing. Jan Čechal, Ph.D. (člen)
Date of acceptance
2015-11-30
Defence
Práce přináší nové konstrukční prvky pro nízkoteplotní rastrovací sondovou mikroskopii. Většina výsledků zatím podléhá určitému stupni obchodního tajemství. Přesto některé obecnější závěry byly publikovány v časopisech s IF.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Přístup k plnému textu prostřednictvím internetu byl licenční smlouvou omezen na dobu 5 roku/let
DOI
Collections
Citace PRO