Napěťové reference v bipolárním a CMOS procesu

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Kotrč, Václav

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Tato práce se zabývá návrhem napěťových referencí. Porovnává dosažené výsledky optimalizace bipolární reference typu Brokaw s referencemi MOSovými. Uvedená principiální schémata jsou vysvětlena, postupně rozdělena na úroveň základních bloků a analyzána pomocí Monte Carlo. Jsou zde také naznačeny postupy pro dosažení nižší odchylky referenčního napětí za účelem vynechání trimování obvodu při výrobě.
This diploma thesis deals with precise design of Brokaw BandGap voltage reference comparing with MOS references. There is STEP BY STEP separation and analysis of proposed devices, using Monte Carlo analysis. There are also presented the methods for achieving a lower deviation of the output voltage for yielding device, which needs no trimming.

Description

Citation

KOTRČ, V. Napěťové reference v bipolárním a CMOS procesu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2015.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Mikroelektronika

Comittee

prof. Ing. Vladislav Musil, CSc. (předseda) doc. Ing. Pavel Legát, CSc. (místopředseda) Ing. Milan Šesták (člen) doc. Ing. Josef Šandera, Ph.D. (člen) doc. Ing. Vilém Kledrowetz, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2015-06-09

Defence

Student seznámil státní zkušební komisi s cílem a řešením své diplomové práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Stručně a výstižně popsal tři druhy napěťových referencí na čipu, které byly v práci použity. Doplňující otázky komise na detaily obvodového řešení, strukturu reference typu BandGap, stabilitu referenčních zdrojů, použité trimování, parametry analýzy Monte Carlo, rozsah práce a správné názvosloví byly studentem také detailně zodpovězeny.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO