Porovnání mikroskopických diagnostických metod
| but.committee | prof. Ing. Radimír Vrba, CSc. (předseda) prof. Ing. Jaromír Kadlec, CSc. (místopředseda) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen) Ing. Miroslav Zatloukal (člen) Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Student seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: V případě metody SEM bylo použití detektoru typu ETD a urychlovacího napětí Uk=1kV vhodnější proti použití urychovacího napětí Uk=15kV a detektoru typu TLD. Čím to bylo způsobeno? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Čudek, Pavel | cs |
| dc.contributor.author | Veselý, Jakub | cs |
| dc.contributor.referee | Tihlaříková, Eva | cs |
| dc.date.created | 2012 | cs |
| dc.description.abstract | Tato práce se zabývá popisem a porovnáním diagnostických metod transmisní elektronové mikroskopie, rastrovací elektronové mikroskopie a mikroskopie atomárních sil. V úvodu práce je uveden popis jednotlivých diagnostických metod. Následuje experimentální část zabývající se diagnostikou vzorku feritické chromové oceli metodami rastrovací elektronové mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, transmisní elektronové mikroskopie a vyhodnocením a interpretací naměřených výsledků. V závěru práce je uvedeno srovnání, výhody a nevýhody použitých diagnostických metod. | cs |
| dc.description.abstract | This thesis deals with the description and comparison of diagnostic methods, transmission electron microscopy, scanning electron microscopy and atomic force microscopy. The introduction is a description of diagnostic methods. The following experimental section dealing with the diagnosis of ferritic chromium steel sample methods of scanning electron microscopy, atomic force microscopy, transmission electron microscopy and the evaluation and interpretation of measured results. The conclusion provides a comparison, the advantages and disadvantages of diagnostic methods. | en |
| dc.description.mark | D | cs |
| dc.identifier.citation | VESELÝ, J. Porovnání mikroskopických diagnostických metod [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2012. | cs |
| dc.identifier.other | 61175 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/5870 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Rastrovací elektronová mikroskopie | cs |
| dc.subject | transmisní elektronová mikroskopie | cs |
| dc.subject | mikroskopie atomárních sil | cs |
| dc.subject | mikroskopie rastrující sondou | cs |
| dc.subject | primární elektrony | cs |
| dc.subject | sekundární elektrony | cs |
| dc.subject | zpětně odražené elektrony | cs |
| dc.subject | hrot | cs |
| dc.subject | kontaktní režim | cs |
| dc.subject | bezkontaktní režim. | cs |
| dc.subject | Scanning electron microscopy | en |
| dc.subject | transmission electron microscopy | en |
| dc.subject | atomic force microscopy | en |
| dc.subject | scanning probe microscopy | en |
| dc.subject | primary elektron | en |
| dc.subject | secundary elektron | en |
| dc.subject | backscattered electron | en |
| dc.subject | tip | en |
| dc.subject | contact mode | en |
| dc.subject | non-contact mode. | en |
| dc.title | Porovnání mikroskopických diagnostických metod | cs |
| dc.title.alternative | Comparison of microscopic diagnostic methods | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2012-08-23 | cs |
| dcterms.modified | 2012-09-05-08:24:10 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 61175 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.16 13:23:06 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.17 13:11:35 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika a technologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologie | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |
Files
Original bundle
1 - 3 of 3
Loading...
- Name:
- final-thesis.pdf
- Size:
- 1.88 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- final-thesis.pdf
Loading...
- Name:
- appendix-1.pdf
- Size:
- 2.93 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- appendix-1.pdf
Loading...
- Name:
- review_61175.html
- Size:
- 4.15 KB
- Format:
- Hypertext Markup Language
- Description:
- file review_61175.html
