Povrchová topografie a mechanické vlastnosti tenkých vrstev na bázi tetravinylsilanu

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Plichta, Tomáš

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická

ORCID

Abstract

Předkládaná diplomová práce je zaměřena na přípravu a charakterizaci tenkých vrstev plazmových polymerů na bázi monomeru tetravinylsilanu (TVS). Vzorky byly připraveny v pulzním i kontinuálním režimu plazmového výboje za použití metody plazmochemické depozice z plynné fáze (PECVD). Plazmové polymery byly deponovány na plošné křemíkové substráty z čistého prekurzoru TVS a jeho směsí s argonem nebo kyslíkem. Charakterizace vzorků byla zaměřena především na topografii povrchu a drsnost zkoumanou metodou mikroskopie atomárních sil (AFM), mechanické vlastnosti, konkrétně modul pružnosti a tvrdost, studované cyklickou nanoindentací a posouzení míry adheze vrstvy k substrátu vrypovou zkouškou. Zvláštní pozornost byla věnována charakterizaci vrstev s modulem pružnosti pod 10 GPa. Při určování míry adheze tenké vrstvy k substrátu byl navíc studován i vliv použité geometrie hrotu indentoru. Na základě výsledků byl stanoven vliv depozičních podmínek na mechanické vlastnosti, adhezi a topografii povrchu.
Proposed diploma thesis is focused on preparation and characterization of the plasma polymer thin films based on tetravinylsilane monomer (TVS). Plasma enhanced chemical vapour deposition (PECVD) method involving pulse and continual plasma discharge modes were used for thin film deposition on silicon wafer pieces. Reactive plasma composition was containing pure TVS or mixtures of TVS and argon or oxygen gas. Atomic force microscopy was used for surface topography and roughness characterization. Cyclic nanoindentation was involved to measurements to determine the Young’s modulus and hardness of prepared films and scratch test was performed to evaluate the degree of adhesion. Special attention was drawn to the characterization of films with a Young’s modulus below 10 GPa. Tip geometry of indenter influence on scratch test was also commented. Surface and mechanical properties of thin films in relation to the deposition conditions were correlated to the obtained results and final analysis of deposition conditions influence is proposed.

Description

Citation

PLICHTA, T. Povrchová topografie a mechanické vlastnosti tenkých vrstev na bázi tetravinylsilanu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická. 2016.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Chemie, technologie a vlastnosti materiálů

Comittee

prof. RNDr. Josef Jančář, CSc. (předseda) prof. Ing. Ladislav Omelka, DrSc. (člen) prof. Dr. Ing. Martin Palou (člen) doc. RNDr. Jaroslav Petrůj, CSc. (člen) prof. Ing. Petr Ptáček, Ph.D. (člen) prof. Ing. Tomáš Svěrák, CSc. (člen) prof. Ing. Jaromír Havlica, DrSc. (člen)

Date of acceptance

2016-05-31

Defence

Diplomant ve svém vystoupení popsal současný stav řešené problematiky a hlavní výsledky své vynikající diplomové práce. Prezentace byla srozumitelná, jasná a přesná, použité grafické prostředky byly rovněž na vysoké úrovni. Dotazy oponenta i členů komise zodpověděl správně a úplně. Prokázal hluboké znalosti oboru a zájem o vědeckou práci.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO