Kontrast v obraze získaném pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů ve VP SEM
| but.committee | prof. Ing. Jiří Kazelle, CSc. (předseda) doc. Ing. Vítězslav Novák, Ph.D. (místopředseda) Ing. Ivana Groligová, CSc. (člen) Ing. Petr Špičák, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Špinka (člen) | cs |
| but.defence | Diplomant seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením své diplomové práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Popište funkci scintilačního detektoru sekundárních elektronů ve VP SEM. | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Jirák, Josef | cs |
| dc.contributor.author | Koudela, Oldřich | cs |
| dc.contributor.referee | Špinka, Jiří | cs |
| dc.date.created | 2011 | cs |
| dc.description.abstract | První část této práce je teoretické pojednání o základech rastrovací elektronové mikroskopie, složení a funkci elektronového mikroskopu, jeho speciálním případu rastrovacím elektronovém mikroskopu pro vyšší tlak (VP SEM), interakci elektronů s prostředím a o scintilačním detektoru. Praktická část je zaměřena na vyhodnocení materiálového kontrastu na vzorku mědi a wolframu v závislosti na tlaku vodních par v komoře vzorku mikroskopu a podmínkách detekce. | cs |
| dc.description.abstract | First part of this thesis is a theoretical essay which deals with the basics of scanning electron microscopy, with structure and function of a scanning electron microscope, its’ special case of an various pressure scanning electron microscope, electron interaction with surrounding environment and with a scintillation detector. The applied part of the thesis is focused on evaluation of material contrast on Cu-W specimen. Material contrast is evaluated for different pressures of water vapors in the microscope specimen chamber and for different detection conditions. | en |
| dc.description.mark | B | cs |
| dc.identifier.citation | KOUDELA, O. Kontrast v obraze získaném pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů ve VP SEM [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2011. | cs |
| dc.identifier.other | 41107 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/8167 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Rastrovací elektronový mikroskop pracující při vyšším tlaku | cs |
| dc.subject | scintilační detektor | cs |
| dc.subject | materiálový kontrast | cs |
| dc.subject | Various pressure scanning electron microscope | en |
| dc.subject | scintillation detector | en |
| dc.subject | material contrast | en |
| dc.title | Kontrast v obraze získaném pomocí scintilačního detektoru sekundárních elektronů ve VP SEM | cs |
| dc.title.alternative | Contrast in image aquired by scintillation SE detector for VP SEM | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2011-06-08 | cs |
| dcterms.modified | 2024-05-17-12:53:03 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 41107 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.26 13:00:55 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 19:08:44 | en |
| thesis.discipline | Elektrotechnická výroba a management | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologie | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |