Nedestruktivní lokální diagnostika optoelektronických součástek

Simple item page
but.committeedoc. Ing. Karel Liedermann, CSc. (předseda) prof. Ing. Jozef Kaiser, Ph.D. (člen) doc. Ing. Pavel Trnka, Ph.D. (člen) prof. Ing. Václav Mentlík, CSc. (člen) doc. Ing. Michal Váry, Ph.D. (člen) doc. Ing. Ladislav Pína, DrSc. - oponent (člen) RNDr. Emil Pinčík, CSc. - oponent (člen)cs
but.defenceDoktorandka ve vymezeném čase prezentovala výsledky své disertační práce, zejména zdůraznila původní výsledky a svůj přínos k dané vědní oblasti. Školitel posoudil působení doktorandky na pracovišti v průběhu doktorského studia a vlastní průběh řešení disertační práce velmi pozitivně a doporučil její práci k obhajobě. Posudky obou oponentů byly kladné, oponenti neshledali v práci žádné závažnější nedostatky. Všechny otázky oponentů doktorandka vyčerpávajícím způsobem zodpověděla. V následné diskusi s členy komise pak prokázala, že se v problematice velmi dobře orientuje. Komise s potěšením konstatovala, že prezentovaná práce i znalosti doktorandky vykazují vysokou úroveň, a že práce obsahuje podstatné nové původní přínosy k danému vědnímu oboru.cs
but.jazykangličtina (English)
but.programElektrotechnika a komunikační technologiecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorTománek, Pavelen
dc.contributor.authorSobola, Dinaraen
dc.contributor.refereePína,, Ladislaven
dc.contributor.refereePinčík,, Emilen
dc.date.accessioned2019-06-14T11:03:14Z
dc.date.available2019-06-14T11:03:14Z
dc.date.created2015cs
dc.description.abstractChceme-li využít nové materiály pro nová optoelektronická zařízení, potřebujeme hlouběji nahlédnout do jejich struktury. K tomu, abychom toho dosáhli, je však nutný vývoj a aplikace přesnějších diagnostických metod. Předložená disertační práce, jako můj příspěvek k částečnému dosažení tohoto cíle, se zabývá metodami lokální diagnostiky povrchu optoelektronických zařízení a jejich materiálů, většinou za využití nedestruktivních mechanických, elektrických a optických technik. Tyto techniky umožňují jednak pochopit podstatu a jednak zlepšit celkovou účinnost a spolehlivost optoelektronických struktur, které jsou obecně degradovány přítomností malých defektů, na nichž dochází k absorpci světla, vnitřnímu odrazu a dalším ztrátovým mechanismům. Hlavní úsilí disertační práce je zaměřeno na studium degradačních jevů, které jsou nejčastěji způsobeny celkovým i lokálním ohřevem, což vede ke zvýšené difúze iontů a vakancí v daných materiálech. Z množství optoelektronických zařízení, jsem zvolila dva reprezentaty: a) křemíkové solární články – součástky s velkým pn přechodem a b) tenké vrstvy – substráty pro mikro optoelektronická zařízení. V obou případech jsem provedla jejich detailní povrchovou charakterizaci. U solárních článků jsem použila sondovou mikroskopii jako hlavní nástroj pro nedestruktivní charakterizaci povrchových vlastností. Tyto metody jsou v práci popsány, a jejich pozitivní i negativní aspekty jsou vysvětleny na základě rešerše literatury a našich vlastních experimentů. Je také uvedeno stanovisko k použití sondy mikroskopických aplikací pro studium solárních článků. V případě tenkých vrstev jsem zvolila dva, z hlediska stability, zajímavé materiály, které jsou vhodnými kandidáty pro přípravu heterostruktury: safír a karbid křemíku. Ze získaných dat a analýzy obrazu jsem našla korelaci mezi povrchovými parametry a podmínkami růstu heterostruktur studovaných pro optoelektronické aplikace. Práce zdůvodňuje používání těchto perspektivních materiálů pro zlepšení účinnosti, stability a spolehlivosti optoelektronických zařízení.en
dc.description.abstractTo obtain novel materials for emerging optoelectronic devices, deeper insight into their structure is required. To achieve this, the development and application of new diagnostic methods is necessary. To contribute to these goals, this dissertation thesis is concerned with local diagnostics, including non-destructive mechanical, electrical and optical techniques for examining the surface of optoelectronic devices and materials. These techniques allows us to understand and improve the overall efficiency and reliability of optoelectronic device structures, which are generally degraded by defects, absorption, internal reflection and other losses. The main effort of the dissertation work is focused on the study of degradation phenomena, which are most often caused by both global and local heating, resulting in increased diffusion of ions and vacancies in the materials of interest. From a variety of optoelectronic devices, we have chosen two representative devices: a) solar cells - a large p-n junction device, and b) thin films - substrates for micro optoelectronic devices. In both cases we provide their detailed surface characterization. For the solar cells, scanning probe microscopy was chosen as the principal tool for non-destructive characterization of surface properties. This method is described, and both positive and negative aspects of the methods used are explained on the basis of literature review and our own experiments. An opinion on the use of probe microscopy applications to study solar cells is given. For the thin films, two interesting, from the stability point of view, materials were chosen as candidates for heterostructure preparation: sapphire and silicon carbide. The obtained data and image analysis showed a correlation between surface parameters and growth conditions for the heterostructures studied for optoelectronic applications. The thesis substantiates using these prospective materials to improve optoelectronic device performance, stability and reliability.cs
dc.description.markPcs
dc.identifier.citationSOBOLA, D. Nedestruktivní lokální diagnostika optoelektronických součástek [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2015.cs
dc.identifier.other88263cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/43100
dc.language.isoencs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectLokální charakterizaceen
dc.subjectoptoelektronikaen
dc.subjectmateriálen
dc.subjectkřemíkový solární článeken
dc.subjectsafíren
dc.subjectkarbid křemíkuen
dc.subjectheterostrukturaen
dc.subjecttenká vrstvaen
dc.subjectskenovací sondová mikroskopieen
dc.subjectAFM mikroskopen
dc.subjectSEMen
dc.subjectzpracování obrazuen
dc.subjectstatistická analýzaen
dc.subjectfraktálová analýzaen
dc.subjectLocal characterizationcs
dc.subjectoptoelectronicscs
dc.subjectmaterialcs
dc.subjectsilicon solar cellscs
dc.subjectaluminum nitridecs
dc.subjectsilicon carbidecs
dc.subjectheterostructurecs
dc.subjectthin filmcs
dc.subjectscanning probe microscopycs
dc.subjectatomic force microscopycs
dc.subjectscanning electron microscopycs
dc.subjectimage processingcs
dc.subjectstatistical analysiscs
dc.subjectfractal analysiscs
dc.titleNedestruktivní lokální diagnostika optoelektronických součásteken
dc.title.alternativeNon-Destructive Local Diagnostics of Optoelectronic Devicescs
dc.typeTextcs
dc.type.driverdoctoralThesisen
dc.type.evskpdizertační prácecs
dcterms.dateAccepted2015-11-19cs
dcterms.modified2015-11-23-08:35:54cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid88263en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.22 23:18:00en
sync.item.modts2021.11.22 22:37:42en
thesis.disciplineFyzikální elektronika a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav fyzikycs
thesis.levelDoktorskýcs
thesis.namePh.D.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 5 of 6
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
4.56 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
thesis-1.pdf
Size:
1.22 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
thesis-1.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Vedouci prace-posudek skolitele Dinara.pdf
Size:
43.08 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Vedouci prace-posudek skolitele Dinara.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Oponent prace-Pina Posudek disertacni prace Dallaeva.pdf
Size:
179.73 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Oponent prace-Pina Posudek disertacni prace Dallaeva.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
Posudek-Oponent prace-Pincik_Posudok_Sobola_Cor.pdf
Size:
72.94 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek-Oponent prace-Pincik_Posudok_Sobola_Cor.pdf
Download
Collections
2015