Měření náboje v dielektrických vrstvách
but.committee | prof. Ing. Radimír Vrba, CSc. (předseda) prof. Ing. Lubomír Hudec, DrSc. (místopředseda) doc. Ing. Lukáš Fujcik, Ph.D. (člen) Ing. Ondřej Hégr, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Starý, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Student seznámil komisi s řešením své bakalářské práce a zodpověděl otázky. Otázky oponenta: Jaké jednotky mají být správně na osách kapacity v prezentovaných C-V závislostech? Jaká byla tloušťka SiNx vrstev? Otázky komise: Sledoval jste v průběhu pokusu drsnost povrchu? Srovnejte účinnost měřeného článku s běžně používánými články. | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Hégr, Ondřej | cs |
dc.contributor.author | Šťavík, Jaroslav | cs |
dc.contributor.referee | Boušek, Jaroslav | cs |
dc.date.created | 2010 | cs |
dc.description.abstract | Tato práce se zabývá moderním měřením elektrického náboje v dielektrických vrstvách. Jedná se hlavně o měření C-V charakteristiky a specielní metody měření povrchové energie ze smáčivosti povrchu. Práce je brána jako základ pro další zkoumání nových metod pro měření náboje v dielektriku. | cs |
dc.description.abstract | This work deal with modern measurement of electrical charge in the dielectric layers. It is mainly about measuring CV characteristics and special methods of measuring the surface energy of the surface wettability. Work is taken as a basic for further exploration of new methods for measuring the charge in the dielectric. | en |
dc.description.mark | C | cs |
dc.identifier.citation | ŠŤAVÍK, J. Měření náboje v dielektrických vrstvách [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2010. | cs |
dc.identifier.other | 32317 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/6108 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | CV měření | cs |
dc.subject | smáčení | cs |
dc.subject | elektrický náboj | cs |
dc.subject | dielektrikum | cs |
dc.subject | RF MEMS | cs |
dc.subject | fotovoltaický článek | cs |
dc.subject | pasivace | cs |
dc.subject | backside field. | cs |
dc.subject | CV measurement | en |
dc.subject | wetting | en |
dc.subject | electric charge | en |
dc.subject | dielectric | en |
dc.subject | RF MEMS | en |
dc.subject | photovoltaic cell | en |
dc.subject | passivation | en |
dc.subject | backside field | en |
dc.title | Měření náboje v dielektrických vrstvách | cs |
dc.title.alternative | Electric charge measurement in dielectric layers | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | bachelorThesis | en |
dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2010-06-15 | cs |
dcterms.modified | 2010-07-13-11:45:14 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 32317 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2025.03.16 13:16:32 | en |
sync.item.modts | 2025.01.15 15:26:41 | en |
thesis.discipline | Mikroelektronika a technologie | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
thesis.level | Bakalářský | cs |
thesis.name | Bc. | cs |