Chemická pasivace povrchu křemíkových desek pro solární články
| but.committee | prof. Ing. Jaromír Brzobohatý, CSc. (předseda) doc. Ing. Jiří Háze, Ph.D. (místopředseda) Ing. Ondřej Sajdl, Ph.D. (člen) doc. Ing. Antonín Rek, CSc. (člen) Ing. Jiří Špinka (člen) | cs |
| but.defence | V jaké formě se může vodík vázat na volné křemíkové vazby a co způsobuje jeho nestabilitu v delším čase? Charakterizujte světelné spektrum (vlnová délka, penetrační hloubka), použité pro generaci páru elektron-díra v křemíkovém substrátu při měření metodou MW-PCD. | cs |
| but.jazyk | slovenština (Slovak) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Boušek, Jaroslav | sk |
| dc.contributor.author | Solčanský, Marek | sk |
| dc.contributor.referee | Hégr, Ondřej | sk |
| dc.date.accessioned | 2019-04-03T22:10:56Z | |
| dc.date.available | 2019-04-03T22:10:56Z | |
| dc.date.created | 2009 | cs |
| dc.description.abstract | Táto diplomová práca sa zaoberá skúmaním rôznych druhov roztokov pre chemickú pasiváciu kremíkového povrchu na testovacie účely kremíkových rezov s ich následným porovnaním. Hlavnou úlohou práce je nájsť optimálny roztok, ktorý vyhovuje požiadavkám časovej stability a rýchlosti nábehu pasivačných schopností roztoku, reprodukovatežnosti merania a možnosti dokonalého oplachu zbytkov pasivačného roztoku z kremíkového povrchu, aby po opätovnom vrátení kremíkovej dosky do výrobného procesu nedochádzalo k zhoršeniu vlastností meranej kremíkovej dosky a kontaminácii celej série vyrábaných solárnych článkov, pričom oplachovacia metóda po chemickej pasivácii je takisto predmetom skúmania. | sk |
| dc.description.abstract | This master´s thesis deals with an examination of different solution types a for the chemical passivation of a silicon surface. Various solutions are tested on silicon wafers for their consequent comparison. The main purpose of this work is to find optimal solution, which suits the requirements of a time stability and start-up velocity of passivation, reproducibility of the measurements and a possibility of a perfect cleaning of a passivating solution remainig from a silicon surface, so that the parameters of a measured silicon wafer will not worsen and there will not be any contamination of the other wafers series in the production after a repetitive return of the measured wafer into the production process. The cleaning process itself is also a subject of a development. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | SOLČANSKÝ, M. Chemická pasivace povrchu křemíkových desek pro solární články [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009. | cs |
| dc.identifier.other | 22874 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/7365 | |
| dc.language.iso | sk | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | pasivácia kremíkového povrchu | sk |
| dc.subject | chinhydrón | sk |
| dc.subject | chemická pasivácia | sk |
| dc.subject | jódová pasivácia | sk |
| dc.subject | simulačný program PC1D | sk |
| dc.subject | meranie doby života minoritných nosičov náboja | sk |
| dc.subject | metóda MW PCD | sk |
| dc.subject | passivation of a silicon surface | en |
| dc.subject | quinhydrone | en |
| dc.subject | chemical passivation | en |
| dc.subject | iodine passivation | en |
| dc.subject | simulation program PC1D | en |
| dc.subject | measurement of minority carrier lifetime | en |
| dc.subject | method MW PCD (Microwave Photoconductivity Decay) | en |
| dc.title | Chemická pasivace povrchu křemíkových desek pro solární články | sk |
| dc.title.alternative | Chemical passivation of surface for silicon solar cells | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2009-06-08 | cs |
| dcterms.modified | 2009-07-07-11:45:34 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 22874 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2021.11.12 10:09:19 | en |
| sync.item.modts | 2021.11.12 09:25:25 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |