Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno
| but.committee | prof. Ing. Hana Pačaiová, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Miloš Hammer, CSc. (místopředseda) prof. Ing. Milan Oravec, Ph.D. (člen) Ing. Jan Šrámek (člen) Ing. Michal Drlík, Ph.D. (člen) Ing. Jaroslav Šrámek (člen) | cs |
| but.defence | Student zahájil svoji ohajobu seznámením s přístroji, na které je práce zaměřena, pokračoval obeznámením s cíly práce, požadavky na etalon (zorná pole Rigaku, měřící rozsah SIOS, materiál), návrh možného technického řešení, ověření rozměrové kompatibility 3D modelu, závěr a vyhodnocení. Otázka oponenta byla předem vypracována a odpovězena studentem (definice přesnosti měření za využití chybového a nejistotového přístupu pro oba přístroje). Byla doplněna informace o kalibracích přístrojů, etalonů a způsobilost měření na základě připomínek oponenta. Doplňující otázky komise: Jar. Š.: Uvažoval jste, že by výstupy šli do průmyslu? St.: odpověděl v požadovaném rozsahu. M.D. Při 3D tisku hrála roli velikost kuliček? St.: odpověděl v požadovaném rozsahu s doplňujícími informacemi. Řešení stabilní teploty? St.: odpověděl v požadovaném rozsahu. M.O. Materiál, parametry materiálu s ohladem na teplotu, stabilitu v čase? St.: 3D tisk proběhl pouze na zjištění rozměrové kompability, další věci jsou otázkou dalšího řešení dané problematiky. | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Strojní inženýrství | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Šrámek, Jan | cs |
| dc.contributor.author | Češek, Jakub | cs |
| dc.contributor.referee | Jankových, Róbert | cs |
| dc.date.created | 2019 | cs |
| dc.description.abstract | Diplomová práce se zabývá návrhem vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie. Tento etalon délky bude sloužit pro metrologickou návaznost přístroje Rigaku nano3DX umístěným na pracovišti CEITEC Brno a přístroje SIOS NMM-1, který je umístěn na pracovišti ČMI Brno. První část je zaměřena na popis těchto měřicích přístrojů, analýze požadavků na jejich metrologickou návaznost a požadavkům na hmotný délkový etalon. Druhá část je věnována konkrétním možnostem návrhu etalonu, 3D tisku prototypu etalonu a ověření jeho rozměrové kompatibility. V závěru práce je provedeno vyhodnocení a volba vhodného návrhu etalonu. | cs |
| dc.description.abstract | The thesis deals with the design of a suitable length standard for nanometrology. This length standard will be used for metrological traceability of the Rigaku nano3DX located at CEITEC Brno and the SIOS NMM-1 device which is located at ČMI Brno. The first part is focused on the description of these measuring instruments, the analysis of their metrological traceability requirements and the requirements for the material length standard. The second part is devoted to the concrete possibilities of the etalon design, 3D printing of the prototype of the standard and verification of its dimensional compatibility. At the end of the thesis, the evaluation and selection of the appropriate standard design is made. | en |
| dc.description.mark | C | cs |
| dc.identifier.citation | ČEŠEK, J. Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019. | cs |
| dc.identifier.other | 117485 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/179117 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Etalon | cs |
| dc.subject | artefakt | cs |
| dc.subject | akreditace | cs |
| dc.subject | metrologická návaznost | cs |
| dc.subject | nano-CMM | cs |
| dc.subject | SIOS NMM-1 | cs |
| dc.subject | nano-CT | cs |
| dc.subject | Rigaku nano3DX | cs |
| dc.subject | ISO 10360-2:2009 | cs |
| dc.subject | ISO/IEC 17025:2017. | cs |
| dc.subject | Standard | en |
| dc.subject | artifact | en |
| dc.subject | accreditation | en |
| dc.subject | metrological traceability | en |
| dc.subject | nano-CMM | en |
| dc.subject | SIOS NMM-1 | en |
| dc.subject | nano-CT | en |
| dc.subject | Rigaku nano3DX | en |
| dc.subject | ISO 10360-2:2009 | en |
| dc.subject | ISO/IEC 17025:2017. | en |
| dc.title | Návrh vhodného etalonu délky pro oblast nanometrologie na pracovištích ČMI Brno a CEITEC Brno | cs |
| dc.title.alternative | Design of a suitable length standard for nanometology at the CMI Brno and CEITEC Brno | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2019-06-17 | cs |
| dcterms.modified | 2019-06-18-08:21:38 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
| sync.item.dbid | 117485 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.27 08:48:55 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.17 10:19:03 | en |
| thesis.discipline | Kvalita, spolehlivost a bezpečnost | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav výrobních strojů, systémů a robotiky | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |