Teplotní stárnutí bezolovnatých nízkoteplotních spojů

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Jansa, Vojtěch

Mark

B

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Cílem této diplomové práce je prověřit vlastnosti nízkoteplotních bezolovnatých pájek podrobených stárnutí teplotním cyklováním. V teoretické části jsou rozebrány druhy bezolovnatých pájek, pasty používané pro výrobu elektrických obvodů tlustovrstvou technologií a způsoby testování vlastností vytvořených pájených spojů. Praktická část se zabývá návrhem a výrobou testovacích substrátů pro testování vytvořených pájených spojů mezi SMD součástkou a keramickým substrátem. Pro testování byly vybrány dvě pájky s obsahem bismutu, za referenční byla zvolena SAC pájka. Po stárnutí teplotním cyklováním v intervalu teplot -30 °C až 115 °C jsou zde vyhodnocena data získaná testováním mechanické pevnosti pájeného spoje zkouškou střihem.
The aim of this masterś thesis is to investigate properties of lead-free low-temperature solders after termal aging. The theoretical part is focused on various types of lead - free solders, pastes used for the manufacture of electrical circuits by thick-film technology and methods of testing the properties of the soldered joints. The practical part deals with the design and production of test substrates for testing the solder joints formed between the SMD component and the ceramic substrate. Two solder bismuth-containing solder was selected for testing, the SAC solder was selected as the reference. After aging with temperature cycling from -30 ° C to 115 ° C, the data obtained by testing the mechanical strength of the solder joint by the shear test is evaluated.

Description

Citation

JANSA, V. Teplotní stárnutí bezolovnatých nízkoteplotních spojů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2018.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Mikroelektronika

Comittee

doc. Ing. Pavel Šteffan, Ph.D. (předseda) doc. Ing. František Urban, CSc. (místopředseda) prof. Ing. Jan Leuchter, Ph.D. (člen) doc. Ing. Arnošt Bajer, CSc. (člen) Ing. Jan Prášek, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2018-06-06

Defence

Student představil komisi svou diplomovou práci. Během prezentace student představil vzorky ze své práce. Na konci své prezentace student zodpověděl otázky položené oponentem práce. Komise se dotázala studenta na otázky týkající se jeho práce, na které student odpověděl. Komise měla jenom některé připomínky k formálním věcem uvedené v práci a k formální straně v rámci prezentace.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO