Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů
| but.committee | doc. Ing. Vít Jan, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Bohumil Pacal, CSc. (místopředseda) doc. Ing. David Salamon, Ph.D. (člen) Ing. Lenka Klakurková, Ph.D. (člen) Ing. Libor Válka, CSc. (člen) prof. Ing. Tomáš Podrábský, CSc. (člen) | cs |
| but.defence | Je důležitější informace o rozlišitelné vzdálenosti nebo o zvětšení? Které elektronové emisní trysky se používají častěji? Jaká je životnost elektronové trysky? Vysvětlete zobrazení pomocí ET detektoru s negativním a pozitivním nábojem. Jaký je rozdíl mezi EDS a VDS? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Strojírenství | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Čupera, Jan | cs |
| dc.contributor.author | Lamborová, Leona | cs |
| dc.contributor.referee | Kičmerová, Dina | cs |
| dc.date.created | 2019 | cs |
| dc.description.abstract | Tato bakalářská práce se zabývá technikami využívající svazek nabitých částic pro zobrazení a analýzu materiálu. Mezi nabité částice využívající se pro tyto účely patří elektrony a ionty. Tato rešeršní práce je tedy rozdělena na podstatu elektronové a podstatu iontové optiky. Dále je zde pojednáno o principu funkce, konstrukci a detektorech, které slouží k obrazové a chemické analýze skenovací elektronové mikroskopie, transmisní elektronové mikroskopie a metody fokusovaného iontového svazku. | cs |
| dc.description.abstract | This bachelor´s thesis deals with techniques using beam of charged particles for imaging and material analysis. There are two types of charged particles that are used for this purpose, electrons and ions. This research study is divided into principles of electron optics and principles of ion optics. Further, there is mentioned function, construction and detectors used for imaging and chemical analysis of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam. | en |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | LAMBOROVÁ, L. Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019. | cs |
| dc.identifier.other | 116013 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/176661 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Skenovací elektronová mikroskopie | cs |
| dc.subject | transmisní elektronová mikroskopie | cs |
| dc.subject | metoda fokusovaného iontového svazku | cs |
| dc.subject | svazek nabitých částic | cs |
| dc.subject | Scanning electron microscopy | en |
| dc.subject | transmission electron microscopy | en |
| dc.subject | focused ion beam | en |
| dc.subject | beam of charged particles | en |
| dc.title | Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů | cs |
| dc.title.alternative | Techniques using beam of charged particles for imaging and material analysis | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2019-06-12 | cs |
| dcterms.modified | 2019-06-21-14:47:13 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
| sync.item.dbid | 116013 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.26 07:54:43 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.17 10:06:10 | en |
| thesis.discipline | Základy strojního inženýrství | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav materiálových věd a inženýrství | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |