Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Lamborová, Leona

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství

ORCID

Abstract

Tato bakalářská práce se zabývá technikami využívající svazek nabitých částic pro zobrazení a analýzu materiálu. Mezi nabité částice využívající se pro tyto účely patří elektrony a ionty. Tato rešeršní práce je tedy rozdělena na podstatu elektronové a podstatu iontové optiky. Dále je zde pojednáno o principu funkce, konstrukci a detektorech, které slouží k obrazové a chemické analýze skenovací elektronové mikroskopie, transmisní elektronové mikroskopie a metody fokusovaného iontového svazku.
This bachelor´s thesis deals with techniques using beam of charged particles for imaging and material analysis. There are two types of charged particles that are used for this purpose, electrons and ions. This research study is divided into principles of electron optics and principles of ion optics. Further, there is mentioned function, construction and detectors used for imaging and chemical analysis of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam.

Description

Citation

LAMBOROVÁ, L. Techniky využívající svazek nabitých částic k zobrazení a analýze materiálů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Základy strojního inženýrství

Comittee

doc. Ing. Vít Jan, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Bohumil Pacal, CSc. (místopředseda) doc. Ing. David Salamon, Ph.D. (člen) Ing. Lenka Klakurková, Ph.D. (člen) Ing. Libor Válka, CSc. (člen) prof. Ing. Tomáš Podrábský, CSc. (člen)

Date of acceptance

2019-06-12

Defence

Je důležitější informace o rozlišitelné vzdálenosti nebo o zvětšení? Které elektronové emisní trysky se používají častěji? Jaká je životnost elektronové trysky? Vysvětlete zobrazení pomocí ET detektoru s negativním a pozitivním nábojem. Jaký je rozdíl mezi EDS a VDS?

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO