Rastrovací elektronová mikroskopie vzorků zahřívaných na zvýšenou teplotu

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Flekna, Martin

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství

ORCID

Abstract

Tato bakalářská práce se zabývá rastrovací elektronovou mikroskopií vzorků, které jsou zahřívány na teploty do 650 °C pomocí průchodu elektrického proudu. V práci je podán teoretický popis základních principů elektronové mikroskopie. V praktické části je rozebrán vliv jednotlivých faktorů ovlivňujících průběh a kvalitu zobrazování vzorků.
This bachelor thesis deals with scanning electron microscopy at samples which are heated (by electric current) up to 650 °C. The theoretical description of basic principles of electron microscopy is given. The effect of different factors that influence sample imagining and image quality is analyzed in experimental part.

Description

Citation

FLEKNA, M. Rastrovací elektronová mikroskopie vzorků zahřívaných na zvýšenou teplotu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2013.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Fyzikální inženýrství a nanotechnologie

Comittee

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)

Date of acceptance

2013-06-20

Defence

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO