Vliv pracovních podmínek v nízkovakuovém rastrovacím elektronovém mikroskopu na výsledky rentgenové analýzy

Simple item page
but.committeeprof. Ing. Jaromír Kadlec, CSc. (předseda) doc. Ing. Petr Bača, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Jiří Maxa, Ph.D. (člen) Ing. Martin Frk, Ph.D. (člen) Ing. Roman Prokop, Ph.D. (člen)cs
but.defenceStudent seznámil státní zkušební komisi s cíli a řešením závěrečné vysokoškolské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky v diskuzi: Vysvětlete jaký je rozdíl mezi energiově disperzní analýzou (EDS) a rentgenově difrakční analýzou (XRD)? Jaká plynou doporučení pro měření danými metodami? Jak může ovlivnit primární svazek povrch zkoumaného materiálu?cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programElektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorČudek, Pavelcs
dc.contributor.authorHudzik, Martincs
dc.contributor.refereeZimáková, Janacs
dc.date.created2014cs
dc.description.abstractBakalárska práca sa zaoberá detekciou charakteristického röntgenového žiarenia a energiovo disperznou spektroskopiou v prostredí nízkovákuového rastrovacieho elektrónového mikroskopu. Opisuje detekciu röntgenového žiarenia pomocou silicon drifted detektoru, a tiež princíp kvalitatívnej a kvantitatívnej röntgenovej analýzy. Cieľom tejto práce je predviesť energiovo disperznú spektroskopiu známych prvkov za optimálnych podmienok a sledovať zmeny parametrov a výsledkov spektroskopie počas zmeny pracovných podmienok v nízkovákuovom rastrovacom elektrónovom mikroskope Vega3 XMU s Xflash 6|10 spektroskopom.cs
dc.description.abstractBachelor’s thesis deals with detection of characteristic X-Ray and energy dispersive spectroscopy in the environment of low vacuum scanning electron microscope. Describes the detection of X-Ray by silicon drifted detector and also describes the principles of qualitative and quantitative X-Ray analysis. The objective of this thesis is to perform energy dispersive spectroscopy of known elements under the optimal conditions and to monitor changes of parameters and results of the spectroscopy during the change of working conditions in low vacuum scanning electron microscope Vega3 XMU with Xflash 6|10 spectroscope.en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationHUDZIK, M. Vliv pracovních podmínek v nízkovakuovém rastrovacím elektronovém mikroskopu na výsledky rentgenové analýzy [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2014.cs
dc.identifier.other74401cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/34139
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectrastrovací elektrónový mikroskopcs
dc.subjectnízkovákuový rastrovací elektrónový mikroskopcs
dc.subjectcharakteristické röntgenové žiareniecs
dc.subjectsilicon drifted detektorcs
dc.subjectenergiovo disperzná spektroskopiacs
dc.subjectprvková analýzacs
dc.subjectscanning electron microscopeen
dc.subjectlow vacuum scanning electron microscopeen
dc.subjectcharacteristic X-Rayen
dc.subjectsilicon drifted detectoren
dc.subjectenergy dispersive spectroscopyen
dc.subjectelement analysisen
dc.titleVliv pracovních podmínek v nízkovakuovém rastrovacím elektronovém mikroskopu na výsledky rentgenové analýzycs
dc.title.alternativeInfluence of working conditions on the results of X-ray analysis in the low vacuum scanning electron microscopeen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2014-06-16cs
dcterms.modified2014-06-19-08:27:30cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid74401en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.16 13:30:49en
sync.item.modts2025.01.17 10:36:32en
thesis.disciplineMikroelektronika a technologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav elektrotechnologiecs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
2.1 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.zip
Size:
1.87 MB
Format:
zip
Description:
appendix-1.zip
Download
Thumbnail Image
Name:
review_74401.html
Size:
4.48 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_74401.html
Download
Collections
2014