Vzájemná registrace elektronového a iontového obrazu z DualBeam mikroskopu

but.committeedoc. Ing. Jana Kolářová, Ph.D. (předseda) Ing. Martin Mézl, Ph.D. (místopředseda) Mgr. Bc. Darina Čejková, Ph.D. (člen) Ing. Vratislav Čmiel, Ph.D. (člen) Ing. Jakub Hejč (člen)cs
but.defenceStudentka prezentovala výsledky své práce a komise byla seznámena s posudky. Ing. Harabiš položil otázku, zda je možné ukázat chybné a správné případy, kdy algoritmy detekovaly jednotlivé významné body? Doc. Schwarz položil otázku, co je největší přidanou hodnotou dané práce - měření, zpracování dat nebo vyhodnocení? Jaká metoda byla použita pro segmentaci významných bodů? Ing. Hejč položil otázku, jaký byl postup při hledání parametrů u vzorků? Studentka obhájila diplomovou práci s výhradami a odpověděla na otázky členů komise a oponenta.cs
but.jazykangličtina (English)
but.programBiomedicínské inženýrství a bioinformatikacs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorKrálík, Martinen
dc.contributor.authorOreničová, Jaroslavaen
dc.contributor.refereeHarabiš, Vratislaven
dc.date.accessioned2023-07-17T09:06:16Z
dc.date.available2023-06-16cs
dc.date.available2023-07-17T09:06:16Z
dc.date.created2020cs
dc.description.abstractV posledných rokoch sa v zobrazovaní materiálov a biologických vzoriek rožšírila elektrónová mikroskopia. Táto práca sa zaoberá vzájomnou registráciou obrazu v tzv. DualBeam elektrónovom mikroskope. Hlavným cieľom tejto práce je nájsť vhodný algoritmus pre registráciu elektrónového a iontového obrazu porovnaním rôznych algoritmov. Ide o detektory a deskriptory SIFT, SURF a AKAZE, vytvorené v programovacom jazyku Python za použitia knižnice OpenCV. Sú testované pri rôznych podmienkach snímania obrazu nebiologických, zväša kovových materiálov ale aj biologických vzoriek a to pri rôznej rotácii, natočení a použitými vzorkami. Vstupné parametre týchto algoritmov sú vzájomné porovnávané k dosiahnutiu optimálnych vstupných nastavení pre jednotlivé skupiny testovaných dát. Každý z detektorov je špecifický pri použitý na rôzne druhy vzoriek. Je tak potrebné zvoliť kompromis pri aplikácii jednotlivých detektorov a dekriptorov vzhľadom na aplikáciu a zvolený typ vzoriek. Na základe testovania je využitie jednotlivých detektorov a deskriptorov nasledujúce: SURF pri kovových vzorkách vo vzájomnom uhle 0° pri zobrazovaní pomocou elektrónového a iontového zväzku a pri párovaní biologických vzoriek. AKAZE funguje najlepšie pri párovaní vzájomne naklonených kovových vzoriek. Pri párovaní obrazov zobrazovaných jedným zväzkom funguje najlepšie SIFT.en
dc.description.abstractIn recent years, electron microscopy has expanded in the imaging of materials and biological samples. This work deals with the mutual registration of the image in the DualBeam electron microscope. This diploma thesis aims to find a suitable algorithm for electron and ion image registration by comparing different algorithms. Those are SIFT, SURF and AKAZE detectors and descriptors, created in the Python programming language using the OpenCV library. They are tested under different conditions of imaging non-biological, mostly metal materials but also biological samples with a different rotation, scale and used samples. The input parameters of these algorithms are compared with each other to achieve optimal input settings for individual groups of tested data. Each of the detectors is specific when used on different types of samples. Thus, it is necessary to choose a compromise in the application of individual detectors and descriptors concerning the application and the chosen type of samples. Based on testing, the use of individual detectors and descriptors is as follows: SURF for metal samples at a mutual angle of 0 ° for imaging with electron and ion beams and for pairing biological samples. AKAZE works best when pairing mutually tilted metal samples. SIFT works best when pairing images displayed by a single beam.cs
dc.description.markCcs
dc.identifier.citationORENIČOVÁ, J. Vzájemná registrace elektronového a iontového obrazu z DualBeam mikroskopu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2020.cs
dc.identifier.other126844cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/213180
dc.language.isoencs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
dc.rightsPřístup k plnému textu prostřednictvím internetu byl licenční smlouvou omezen na dobu 3 roku/letcs
dc.subjectelektrónová mikroskopieen
dc.subjectskenovací elektrónový mikroskopen
dc.subjectDualBeam mikroskopen
dc.subjectcryo-elektrónová mikroskopieen
dc.subjectregistrace obrazuen
dc.subjectSIFTen
dc.subjectSURFen
dc.subjectAKAZEen
dc.subjectelectron microscopycs
dc.subjectscanning electron microscopecs
dc.subjectDualBeam microscopecs
dc.subjectcryo-electron microscopycs
dc.subjectimage registrationcs
dc.subjectSIFTcs
dc.subjectSURFcs
dc.subjectAKAZEcs
dc.titleVzájemná registrace elektronového a iontového obrazu z DualBeam mikroskopuen
dc.title.alternativeRegistration of ion and electron images from DualBeam microscopecs
dc.typeTextcs
dc.type.drivermasterThesisen
dc.type.evskpdiplomová prácecs
dcterms.dateAccepted2020-06-16cs
dcterms.modified2020-08-27-12:17:48cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta elektrotechniky a komunikačních technologiícs
sync.item.dbid126844en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2023.07.17 11:06:16en
sync.item.modts2023.07.17 09:51:22en
thesis.disciplinebez specializacecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav biomedicínského inženýrstvícs
thesis.levelInženýrskýcs
thesis.nameIng.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
12.98 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
appendix-1.zip
Size:
10.86 MB
Format:
zip
Description:
appendix-1.zip
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_126844.html
Size:
5.88 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_126844.html
Collections