but.committee	doc. Dr. Ing. Otto Fučík (předseda) doc. Ing. Zdeněk Vašíček, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Jiří Jaroš, Ph.D. (člen) doc. Ing. Tomáš Martínek, Ph.D. (člen) prof. Ing. Tomáš Vojnar, Ph.D. (člen) Doc. Ing. Valentino Vranić, Ph.D. (člen)	cs
but.defence	Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se poté seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm " B ". Otázky u obhajoby: Na straně 24 v posledním odstavci zmiňuje způsob otestování funkčnosti watchdog modulu, který je založen na využití pomocného čítače. Hodnota tohoto čítače je po resetu mikrokontroléru vyvolaném watchdog modulem zachována? Můžete prosím vámi dosažené výsledky stručně porovnat s obdobnými 2-3 existujícími systémy, např. po stránce přístupu k otestování správnosti provádění kódu a funkce některých systémových bloků mikrokontroléru, na které se ve vaší práci zaměřujete? Jaké modifikace by bylo nutné ve vámi realizovaném řešení provést, pokud by se objevil požadavek na otestování funkce např. DMA přenosů?	cs
but.jazyk	čeština (Czech)
but.program	Informační technologie	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Strnadel, Josef	cs
dc.contributor.author	Denk, Filip	cs
dc.contributor.referee	Šimek, Václav	cs
dc.date.created	2019	cs
dc.description.abstract	Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb.	cs
dc.description.abstract	This Master's thesis deals with functional safety of electronic systems. Specifically, it focuses on self-testing of the microprocessor and its peripherals at the software level. The main aim of the thesis is to design and implement a set of functions written in programming language C or assembly language, which automatically test the selected areas of the microcontroller. Resources and methods used in the implemented solution also aim to meet the requirements according to the safety standard IEC 60730-1, Annex H, Software Class B. The microcontroller NXP LPC55S69 was chosen as a hardware platform. It consists of two ARM Cortex-M33 cores. As a result, the example application is provided, which uses implemented test functions at the run-time. Example application also contains a graphical user interface with fault injection ability.	en
dc.description.mark	B	cs
dc.identifier.citation	DENK, F. Samočinné testování mikrokontrolerů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. 2019.	cs
dc.identifier.other	121969	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/180366
dc.language.iso	cs	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	funkční bezpečnost	cs
dc.subject	samočinné testování	cs
dc.subject	mikrokontrolér	cs
dc.subject	mikroprocesor	cs
dc.subject	vestavěný systém	cs
dc.subject	testování	cs
dc.subject	ARM Cortex	cs
dc.subject	VLSI	cs
dc.subject	IEC 60730	cs
dc.subject	IEC 61508	cs
dc.subject	functional safety	en
dc.subject	self-test	en
dc.subject	microcontroller	en
dc.subject	microprocessor	en
dc.subject	embedded system	en
dc.subject	testing	en
dc.subject	ARM Cortex	en
dc.subject	VLSI	en
dc.subject	IEC 60730	en
dc.subject	IEC 61508	en
dc.title	Samočinné testování mikrokontrolerů	cs
dc.title.alternative	Self-Testing of Microcontrollers	en
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	masterThesis	en
dc.type.evskp	diplomová práce	cs
dcterms.dateAccepted	2019-06-17	cs
dcterms.modified	2019-07-08-13:31:21	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta informačních technologií	cs
sync.item.dbid	121969	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2025.03.26 15:28:54	en
sync.item.modts	2025.01.15 14:59:58	en
thesis.discipline	Počítačové a vestavěné systémy	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. Ústav počítačových systémů	cs
thesis.level	Inženýrský	cs
thesis.name	Ing.	cs

Samočinné testování mikrokontrolerů

Files

Original bundle

Collections