Vady seřízení hexapólového korektoru sférické vady, jejich analýza a korekce
| but.committee | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Eduard Schmidt, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) | cs |
| but.jazyk | angličtina (English) | |
| but.program | Aplikované vědy v inženýrství | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Radlička, Tomáš | en |
| dc.contributor.author | Sopoušek, Jan | en |
| dc.contributor.referee | Lencová, Bohumila | en |
| dc.date.created | 2017 | cs |
| dc.description.abstract | Jednou z možností korekce sférické vady v elektronové mikroskopii je hexapólový korektor. Ačkoliv samotný princip korekce je poměrně dobře v literatuře popsán, jen relativně málo je věnováno samotnému seřízení hexapólového korektoru, jež je stěžejní pro správnou funkčnost. Práce je věnována analytickému rozboru vad seřízení a jejich vlivu na rozlišení obrazu za použití metody eikonálu a aberačních integrálů. Je ukázáno, že nejdůležitější roli v parazitických aberací hrají výchylky a náklon hexapólů. V závěru je pak popsáno, jakým způsobem je třeba hexapólový korektor seřídit pro odstranění parazitických vad. | en |
| dc.description.abstract | One of the option of spherical aberration correction in electron microscopy is the hexapole corrector. Although the principle of the corrector is described in literature quite elaborately the adjustment of the corrector, which is crucial for its functionality, is studied just briefly. The thesis is dedicated to the analytic analysis of parasitic aberrations and its influence on resolution of an image by the Eikonal method and aberration integrals. It is shown that off-axial shifts and tilts play the major role in parasitic aberrations. In the end the procedure of adjustment of the hexapole corrector for elimination of parasitic aberrations is described. | cs |
| dc.description.mark | A | cs |
| dc.identifier.citation | SOPOUŠEK, J. Vady seřízení hexapólového korektoru sférické vady, jejich analýza a korekce [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2017. | cs |
| dc.identifier.other | 101549 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/66664 | |
| dc.language.iso | en | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Elektronová mikroskopie | en |
| dc.subject | Aberace | en |
| dc.subject | Hexapólový korektor | en |
| dc.subject | Electron Microscopy | cs |
| dc.subject | Aberrations | cs |
| dc.subject | Hexapole Corrector | cs |
| dc.title | Vady seřízení hexapólového korektoru sférické vady, jejich analýza a korekce | en |
| dc.title.alternative | Parasitic aberrations of the hexapole corrector of spherical aberration - analysis and corrections | cs |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | masterThesis | en |
| dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2017-06-21 | cs |
| dcterms.modified | 2017-06-21-15:38:50 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
| sync.item.dbid | 101549 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.27 08:37:41 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.16 00:40:30 | en |
| thesis.discipline | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
| thesis.level | Inženýrský | cs |
| thesis.name | Ing. | cs |