Měření vlastností tlustovrstvých RC prvků s rozloženými parametry
| but.committee | doc. Ing. Ivan Szendiuch, CSc. (předseda) Ing. Karel Pospíšil (místopředseda) doc. Ing. Radovan Novotný, Ph.D. (člen) doc. Ing. Petr Křivík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jaroslav Kadlec, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Studentka seznámila státní zkušební komisi s podstatnou částí své závěrečné práce a zodpověděla otázky a připomínky oponenta. Otázky: Měření probíhalo jednorázově nebo ve více vlnách. Jaké byly vnější parametry při měření. Měřila se kapacita. | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Szendiuch, Ivan | cs |
| dc.contributor.author | Kořínková, Ksenia | cs |
| dc.contributor.referee | Švecová, Olga | cs |
| dc.date.created | 2008 | cs |
| dc.description.abstract | Předkládaná práce se zabývá analýzou vlastností tlustovrstvých RC prvků s rozloženými parametry. Teoretická část řeší návrh RC prvků, na nějž navazuje jejich realizace. Součástí práce je měření odporů a zjištění závislosti rozptylu daných odporů s různým počtem vrstev struktur v závislosti na jejich vypalovacích režimech. Tato bakalářská práce souvisí s bakalářskou prací "Vlastnosti 3D prvků realizovaných tlustovrstvou technologií". | cs |
| dc.description.abstract | The following work is focused on properties analysis of thick film RC elements with distributed parameters. The theoretical part offers projecting of RC elements, with their next realization. There are the following work parts: the resistance measurement and determination of the given resistances dependence scattering with different film number of the structures depending on their burning conditions. This bachelor's thesis is closed to the bachelor's work "Properties of Thick Film Multilayer Component". | en |
| dc.description.mark | D | cs |
| dc.identifier.citation | KOŘÍNKOVÁ, K. Měření vlastností tlustovrstvých RC prvků s rozloženými parametry [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2008. | cs |
| dc.identifier.other | 15764 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/14486 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | RC struktura | cs |
| dc.subject | RC prvky | cs |
| dc.subject | rozložené parametry | cs |
| dc.subject | tlustovrstvé prvky | cs |
| dc.subject | vodivá vrstva | cs |
| dc.subject | dielektrická vrstva | cs |
| dc.subject | odporová vrstva. | cs |
| dc.subject | RC structure | en |
| dc.subject | RC elements | en |
| dc.subject | distributed parameters | en |
| dc.subject | thicklayer elements | en |
| dc.subject | conductive level | en |
| dc.subject | dielectric level | en |
| dc.subject | resistance level. | en |
| dc.title | Měření vlastností tlustovrstvých RC prvků s rozloženými parametry | cs |
| dc.title.alternative | Characteristic measuremens of thick-film RC elements with distributed parameters | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2008-06-13 | cs |
| dcterms.modified | 2008-06-13-12:23:19 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 15764 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.16 12:59:04 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.15 19:05:25 | en |
| thesis.discipline | Mikroelektronika a technologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |