Mikroskopie pomalými elektrony ve studiu složitých krystalických struktur
Loading...
Date
Authors
ORCID
Advisor
Referee
Mark
P
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstract
Pro studium krystalové struktury materiálů se standardně používají metody difrakční (RTG, neutrony, synchrotronové záření), dále difrakce zpětně odražených elektronů, skenovací transmisní elektronová mikroskopie, transmisní elektronová mikroskopie a mikroskopie pomocí fokusovaného iontového svazku. Mikroskopie pomalými elektrony (SLEEM) není stále příliš známou metodou pro studium polykrystalů, a to navzdory tomu, že představuje velmi účinný nástroj pro zobrazení krystalové struktury. Pomocí pomalých elektronů emitovaných ze vzorku a detekovaných v celém úhlovém a energiovém spektru je dosaženo vysokého prostorového rozlišení a velkého kontrastu mezi odlišně orientovanými zrny. Díky vysoké citlivosti metody na distribuci vnitřního potenciálu lze zobrazit strukturní detaily, jako jsou např. subzrna či dvojčata a mapovat vnitřní napětí. Smyslem dizertační práce je demonstrovat metodu SLEEM jako efektivní nástroj pro studium širokého spektra materiálů, jako jsou oceli, neželezné slitiny a ultrajemnozrnné kovy.
Methods for examination of the crystal structure of crystalline materials include the X-Ray, neutron and synchrotron-radiation diffraction, electron backscattered diffraction in the scanning electron microscope, scanning transmission electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam microscopy. The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) is less known as yet but already has proven itself very powerful tool for studies of the crystal lattice. By means of very slow electrons reflected from the sample and effectively detected in their full angular and energy distribution the crystalline structure is imaged at high spatial resolution and high contrast is obtained between differently oriented grains in polycrystals. Because of high sensitivity of the image signal to the inner potential distribution in the sample even details like subgrains or twins as well as strain at the microstructural level can be visualized. The aim of this thesis is to demonstrate the scanning low energy electron microscopy as an effective tool for investigation of wide range of materials like steels, non-ferrous alloys and ultra-fine grained materials.
Methods for examination of the crystal structure of crystalline materials include the X-Ray, neutron and synchrotron-radiation diffraction, electron backscattered diffraction in the scanning electron microscope, scanning transmission electron microscopy, transmission electron microscopy and focused ion beam microscopy. The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) is less known as yet but already has proven itself very powerful tool for studies of the crystal lattice. By means of very slow electrons reflected from the sample and effectively detected in their full angular and energy distribution the crystalline structure is imaged at high spatial resolution and high contrast is obtained between differently oriented grains in polycrystals. Because of high sensitivity of the image signal to the inner potential distribution in the sample even details like subgrains or twins as well as strain at the microstructural level can be visualized. The aim of this thesis is to demonstrate the scanning low energy electron microscopy as an effective tool for investigation of wide range of materials like steels, non-ferrous alloys and ultra-fine grained materials.
Description
Citation
MIKMEKOVÁ, Š. Mikroskopie pomalými elektrony ve studiu složitých krystalických struktur [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. .
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Fyzikální a materiálové inženýrství
Comittee
prof. Ing. Rudolf Foret, CSc. (předseda)
doc. RNDr. Josef Kasl, CSc. (člen)
prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc. (člen)
prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen)
RNDr. Vladimír Kolařík, CSc. (člen)
RNDr. Milan Svoboda, CSc. (člen)
Date of acceptance
Defence
DDP představuje možno, které poskytuje mikroskopie pomalými elektrony. Obsahuje rozsáhlý soubor mikrostrukturních analýz s využitím metody SLEEM, zahrnuje pestrou škálu různých typů materiálů včetně mikrostruktury laserových svarů.
V tezích je nutné doplnit kapitolku "Cíle DDP"
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Přístup k plnému textu prostřednictvím internetu byl licenční smlouvou omezen na dobu 10 roku/let