Pokročilé techniky SPM měření elektrických vlastností materiálů

but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen) doc. Mgr. Vlastimil Křápek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Miroslav Bartošík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) doc. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencePo otázkách oponenta bylo diskutováno Závislost rezistivity na teplotě. Student na otázku odpověděl.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorPavera, Michalcs
dc.contributor.authorKramář, Jancs
dc.contributor.refereeKonečný, Martincs
dc.date.accessioned2022-06-16T06:52:43Z
dc.date.available2022-06-16T06:52:43Z
dc.date.created2022cs
dc.description.abstractTato bakalářská práce je zaměřena na návrh řešení techniky pro měření lokálních elektrických vlastností vzorku v kontaktním režimu mikroskopie atomárních sil. Rešeršní část popisuje nejvíce rozšířené techniky měření těchto elektrických vlastností spadajících do rastrovací sondové mikroskopie. K realizaci byla zvolena technika rastrovací odporová mikroskopie. Důležitou součástí této techniky jsou zesilovače proudu. Z tohoto důvodu jsou podrobně popsány operační zesilovače, jeho různá zapojení a následná implementace nového zesilovače na mikroskop. Zbylá část se věnuje popisu a přípravě vzorků, na kterých byla funkčnost zesilovače a techniky testována.cs
dc.description.abstractThis bachelor thesis is concerned about development of local electric properties characterization technique of sample in contact mode of Atomic Force Microscopy. The research part describes the most expanded techniques of characterization of local electric properties using Scanning Probe Microscopy. For realization was chosen Scanning Spreading Resistance Microscopy. Important part of this technique is current amplifier. For that reason, operational amplifiers, circuits with them and implementation of new amplifier on microscop are described. Last chapter is dedicated to description of samples, which were used to test functionality of the amplifier and technique.en
dc.description.markBcs
dc.identifier.citationKRAMÁŘ, J. Pokročilé techniky SPM měření elektrických vlastností materiálů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2022.cs
dc.identifier.other139596cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/205878
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectSPMcs
dc.subjectAFMcs
dc.subjectSSRMcs
dc.subjectoperační zesilovačcs
dc.subjectlogaritmický zesilovačcs
dc.subjectSPMen
dc.subjectAFMen
dc.subjectSSRMen
dc.subjectoperational amplifieren
dc.subjectlogarithmic amplifieren
dc.titlePokročilé techniky SPM měření elektrických vlastností materiálůcs
dc.title.alternativeAdvanced SPM techniques for measuring electrical properties of materialsen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2022-06-15cs
dcterms.modified2022-06-15-14:16:30cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid139596en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2022.06.16 08:52:43en
sync.item.modts2022.06.16 08:14:15en
thesis.disciplinebez specializacecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
757.47 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_139596.html
Size:
13.65 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_139596.html
Collections