but.committee	prof. Ing. Lukáš Sekanina, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Jiří Jaroš, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Vítězslav Beran, Ph.D. (člen) doc. Mgr. Lukáš Holík, Ph.D. (člen) Ing. Zbyněk Křivka, Ph.D. (člen)	cs
but.defence	Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se poté seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm B. Otázky u obhajoby: Předložte podklady indikující splnění požadavku "s důrazem na uživatelskou přívětivost a efektivitu" z bodu 3 zadání. Pokuste se vymezit typ poruch/chyb detekovatelných implementovaným testem reproduktoru . Z technické zprávy plyne, že pro testování 4 ks LED byl použit jediný fotorezistor . Jak test, pomocí fotorezistoru, zjistí stav pouze určených LED a ne jiných? Šlo by testování GPIO realizovat i bez externího prvku , např. zvoleného MCP23S17? Část 5.2 technické zprávy prezentuje výsledek testů, který neindikuje žádnou poruchu/chybu detekovanou dílčími testy. Může z toho čtenář vyvodit nějaký obecný závěr týkající se předloženého realizačního výstupu, např. jeho testovacích schopností a vlastností ? Pro každý z testů identifikujte (např. formou tabulky) dvě situace - situaci, ve které bude test falešně signalizovat poruchu /chybu a situaci, ve které bude test falešně signalizovat bezporuchovost /bezchybnost. Jak poznáte, jestli je reproduktor funkční? Jak dlouho trvá otestování jednoho FITkitu? Kolik procent potřebných testů pokrývá vaši práci a kolik ještě zbývá? Specifikoval jste typ poruch, které se snažíte odhalit?	cs
but.jazyk	čeština (Czech)
but.program	Informační technologie	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Bidlo, Michal	cs
dc.contributor.author	Stehlík, Petr	cs
dc.contributor.referee	Strnadel, Josef	cs
dc.date.created	2020	cs
dc.description.abstract	Tato práce řeší problém testování určité množiny modulů mikrokontroléru ARM Kinetis Cortex-M4 (MK60DN512ZVMD10) na výukové platformě FITkit3 (známé také jako Minerva). Konkrétně se zabývá návrhem testovacího firmwaru v jazyce C pro automatizované testování, návrhem hardwarového modulu pro testování vstupně/výstupních rozhraní platformy s využitím integrovaného obvodu MCP23S17 a návrhem obslužného softwaru s textovým uživatelským rozhraním ve skriptovacím jazyce Python3 pro ovládání testování z PC. Vybranou testovací množinou modulů jsou časovače periodického přerušení (PIT), časovač s nízkou spotřebou (LPTMR) a hodiny reálného času (RTC), dále moduly pro sériový přenos dat skrze UART a SPI rozhraní, reproduktor a GPIO porty. Vytvořené řešení poskytuje komplexní nástroj pro analýzu funkčnosti často využívaných modulů při programování na platformě FITkit3, který samotný proces analýzy téměř celý automatizuje. Hlavním přínosem této práce je zejména usnadnění testování a rychlé odhalení chyb na velkém počtu výukových kitů.	cs
dc.description.abstract	This work solves the problem of testing a certain set of ARM Kinetis Cortex-M4 \newline (MK60DN512ZVMD10) microcontroller modules on the FITkit3 learning platform (also known as Minerva). Specifically, it deals with the design of test firmware in the C programming language for automated testing, the design of a hardware module for testing platform input/output interfaces using the MCP23S17 integrated circuit and the design of a software with text-based user interface in Python3 for the testing control from a PC. The selected test set of modules are Periodic interrupt timers (PIT), Low-power timer (LPTMR) and Real time clock (RTC), further modules for serial data transmission via UART and SPI interfaces, speaker and GPIO ports. The created solution provides a comprehensive tool for analysing the functionality of frequently used modules on FITkit3, which automates the analysis process almost completely. The main benefit of this work is the facilitation of testing and a rapid detection of errors in a large number of kits.	en
dc.description.mark	B	cs
dc.identifier.citation	STEHLÍK, P. Testovací nástroj pro platformu FITkit3 [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. 2020.	cs
dc.identifier.other	129226	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/191576
dc.language.iso	cs	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	automatizované testovaní	cs
dc.subject	FITkit3	cs
dc.subject	testování	cs
dc.subject	mikrokontrolér	cs
dc.subject	vestavěný systém	cs
dc.subject	ARM Cortex-M4	cs
dc.subject	Kinetis K60	cs
dc.subject	automated testing	en
dc.subject	FITkit3	en
dc.subject	testing	en
dc.subject	microcontroller	en
dc.subject	embedded system	en
dc.subject	ARM Cortex-M4	en
dc.subject	Kinetis K60	en
dc.title	Testovací nástroj pro platformu FITkit3	cs
dc.title.alternative	The FITkit3 Tester	en
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	bachelorThesis	en
dc.type.evskp	bakalářská práce	cs
dcterms.dateAccepted	2020-07-13	cs
dcterms.modified	2020-07-13-23:43:55	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta informačních technologií	cs
sync.item.dbid	129226	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2025.03.18 19:31:18	en
sync.item.modts	2025.01.15 12:05:40	en
thesis.discipline	Informační technologie	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. Ústav počítačových systémů	cs
thesis.level	Bakalářský	cs
thesis.name	Bc.	cs

Testovací nástroj pro platformu FITkit3

Files

Original bundle

Collections