Příprava a charakterizace SNOM sond

Abstract

Tato bakalářská práce se zabývá precizní výrobou sond pro rastrovací optickou mikroskopii blízkého pole (SNOM) a jejich charakterizací. Jelikož SNOM sonda v průběhu měření ovlivňuje blízké elektromagnetické pole, je kvalita výroby těchto sond a jejich přesná charakterizace klíčovým prvkem umožňující správnou interpretaci naměřených výsledků. Tato bakalářská práce má za cíl provést rešeršní studii na téma SNOM, SNOM sondy a jejich příprava. Dále pak připravit a charakterizovat funkční SNOM sondy, které bude možno použít k optické detekci interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP).This Bachelor’s thesis is about the preparation of precision probes for Scanning Nearfield Optical Microscopy (SNOM) and its characteristics. Since SNOM probes influence the near electromagnetic field, the quality of their construction and their exact description is a key element for the valuable interpretation of measured data. The goal of this thesis is to grant literature research about SNOM, SNOM probes and their preparation process. Secondly, to produce and characterize the functional SNOM probes, which could then be used to detect optical interferences of Surface Plasmon Polaritons (SPPs).