Analýza povrchů pevných látek pomocí fotoelektronů - počítačové řízení experimentů

Simple item page
but.committeeprof. Ing. Jiří Švejcar, CSc. (předseda) RNDr. Josef Zemek, CSc. (člen) Ing. Vladimír Cháb, CSc. (člen) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Vladimír Čech, Ph.D. (člen)cs
but.defencePráce přispívá k využití povrchové metody XPS k hloubkovému projektování chemického složení ultratenkých vrstev. Doktorand obohatil současnou úroveň poznatků a metod dané problematiky o započítání útlumu elektronů v již samotné vrstvě jejich vzniku a o zavedení genetických algoritmů do fitovacího procesu.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programFyzikální a materiálové inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorŠikola, Tomášcs
dc.contributor.authorPolčák, Josefcs
dc.contributor.refereeZemek, Josefcs
dc.contributor.refereeCháb, Vladimírcs
dc.date.created2011cs
dc.description.abstractDizertační práce se zabývá metodami pro výzkum povrchů pevných látek za použití fotoelektronů emitovaných rentgenovým zářením. Jedná se o metody rentgenové fotolektronové spektroskopie - XPS, úhlově závislé XPS - ARXPS a rentgenové fotoelektronové difrakce - XPD. Práce se zaměřuje především na metodu ARXPS, která slouží k analýze hloubkového složení povrchu vzorků. Pro získávání informace o hloubkovém složení z naměřených spekter ARXPS byl vytvořen výpočetní software v prostředí Matlab, který byl testován na simulovaných datech a také na reálných vzorcích. Pro realizaci uvedených fotoelektronových metod byl navržen kompletní manipulační systém, který zabezpečuje transport vzorků ve vakuové aparatuře a také realizaci experimentů uvedenými metodami. Systém je z velké části řízen elektronicky pomocí vytvořeného ovládacího softwaru v počítači a umožňuje provádět tyto experimenty automatizovaně.cs
dc.description.abstractDoctoral thesis is dealing with the methods for analysis of surfaces by photoelectrons being emitted by X-ray radiation. The methods are: X-ray Photoelectron Spectroscopy - XPS, Angle-resolved XPS - ARXPS and X-ray Photoelectron Diffraction - XPD. The work is especially focused on a method of ARXPS, which is used for the depth compositional analysis of sample surfaces. To obtain an information about the depth composition from the measured ARXPS spectra, a calculation software in the Matlab environment has been developed. The software has been tested both for simulated and real sample data. For an experimental implementation of these methods, a complete manipulation system has been developed. It ensures the transport of samples inside a vacuum apparatus and the experiment itself. The system is controlled mainly by a software and enables to run the experiments automatically.en
dc.description.markPcs
dc.identifier.citationPOLČÁK, J. Analýza povrchů pevných látek pomocí fotoelektronů - počítačové řízení experimentů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2011.cs
dc.identifier.other34476cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/2263
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectXPScs
dc.subjectARXPScs
dc.subjectXPDcs
dc.subjectUHVcs
dc.subjectmanipulátorcs
dc.subjecthloubkový profilcs
dc.subjectXPSen
dc.subjectARXPSen
dc.subjectXPDen
dc.subjectUHVen
dc.subjectmanipulatoren
dc.subjectdepth profileen
dc.titleAnalýza povrchů pevných látek pomocí fotoelektronů - počítačové řízení experimentůcs
dc.title.alternativeSurface Analysis by Photoelectrons – Computer Control of Experimentsen
dc.typeTextcs
dc.type.driverdoctoralThesisen
dc.type.evskpdizertační prácecs
dcterms.dateAccepted2011-06-23cs
dcterms.modified2011-08-10-10:25:21cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid34476en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.27 13:34:36en
sync.item.modts2025.01.15 13:46:52en
thesis.disciplineFyzikální a materiálové inženýrstvícs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelDoktorskýcs
thesis.namePh.D.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 3 of 3
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
11.93 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
thesis-1.pdf
Size:
2.94 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
thesis-1.pdf
Download
Thumbnail Image
Name:
review_34476.html
Size:
1.7 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_34476.html
Download
Collections
2011