Příprava 2D materiálů v ultravakuovém elektronovém mikroskopu

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Dymáček, Michal

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství

ORCID

Abstract

Tato práce je věnována přípravě vícevrstvého grafenu a h-BN pomocí metody CVD. V teoretické části této práce jsou představeny oba materiály, metoda CVD a SEM. V experimentální části je popsána aparatura a příprava vzorků, dále programy, které v rámci této práce vznikly, sloužící k analýze pořízených snímků, a provedené experimenty. Pro růst vícevrstvého grefenu byla pomocí in-situ analýzy v UHV-SEM hledána odpověď na otázku, jakým způsoben zrna vícevrstvého grafenu vznikají. Byly také provedeny první experimenty přípravy h-BN.
This thesis is devoted to preparation of multilayer graphene and h-BN by CVD method. In the theoretical part of this thesis, both materials are introduced, as well as the CVD method and SEM. In the experimental part, the equipment and samples are described, as well as the computer codes, that were made within this work and used for analysis of taken images, and experiments, that were carried out. Utilizing in-situ analysis in ultra-high vacuum scanning electron microscope, the goal was to answer a question how is the multilayer graphene formed on the surface. Also, the first experiments of preparation of h-BN in this aparature were carried out.

Description

Citation

DYMÁČEK, M. Příprava 2D materiálů v ultravakuovém elektronovém mikroskopu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2022.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

bez specializace

Comittee

prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen) doc. Mgr. Vlastimil Křápek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Miroslav Bartošík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) prof. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)

Date of acceptance

2022-06-17

Defence

Po otázkách oponenta bylo diskutováno Použití metody XPS pro analýzu povrchu. Student na otázky odpověděl.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO