Zdokonalení řídících a analyzačních technik vývojového modelu SPM

Abstract

Bakalářská práce se zabývá zdokonalováním výukového modelu mikroskopu atomárních sil (AFM). Součástí práce je rešerše stávajících analogii mezi makroskopickými jevy a fenomény spojenými s mikroskopii rastrovací sondou. Dále byla vybrána vhodná analogie, která byla následně implementována do již existujícího modelu mikroskopu atomárních sil. Do modelu byl integrován i jednodeskový počítač, který zajistí ovládání i bez nutnosti připojení externího počítače. Na závěr byly vyhodnoceny vlastnosti použité sondy a analogie mezi modelem a skutečnými mikroskopy atomárních sil.This Bachelor Thesis is focused on development of a model of an atomic force microscope (AFM). First part of the thesis is research of already existing analogies between macroscopic phenomena and phenomena connected to scanning probe microscopy. A suitable analogy was chosen and implemented into an existing AFM model. A single-board computer was integrated into the model to enable control without connecting an external computer. In final chapters, probe behaviour and analogies between the model and real atomic force microscopes are discussed.