Návrh poloautomatického polohovacího systému pro měření polovodičových čipů

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Kotian, Tomáš

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Cieľom tejto bakalárskej práce bolo navrhnuť a vytvoriť poloautomatický polohovaci systém pre test polovodičových čipov. V práci je riešený problém s realizáciu konštrukcie pre dosiahnutie čo najväčších presnosti, pre nakontaktovanie za pomoci karty so sondami. Ďalej sa práca zaoberá zvolením vhodnej riadiacej jednotky pre krokové motory a na zaver k vytvorenie programu pre zaostrenie a vycentrovanie čipu za pomoci obrazu z kamery.
The aim of this bachelor thesis is to design and create a system for a semi-automatic positioning system for the test of semiconductor chips. The work solves the problem with the implementation design to achieve the highest possible accuracy for contacting with the help of a probe card. Furthermore, the work deals with the selection of a suitable control unit for stepper motors and finally to create a program for focusing and centering the chip using the image from the camera.

Description

Citation

KOTIAN, T. Návrh poloautomatického polohovacího systému pro měření polovodičových čipů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2021.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

sk

Study field

bez specializace

Comittee

doc. Ing. Jiří Háze, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Vilém Kledrowetz, Ph.D. (místopředseda) Ing. Martin Šťáva, Ph.D. (člen) Ing. Miroslav Zemánek, Ph.D. (člen) Ing. Jan Prášek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Vítězslav Novák, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2021-06-16

Defence

Student seznámil komisi s výsledky své bakalářské práce a zodpověděl otázky komise a oponenta. "Použitý modul byl jednoduše k dispozici. Modulární systém není potřebný. Byl použitý původní FW. Zařízení má sloužit k testování jednotlivých polovodičových čipů."

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO