Organické materiály pro molekulární kvantové bity: depozice a analýza chemického složení a morfologie vrstev
but.committee | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | cs | |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Aplikované vědy v inženýrství | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Čechal, Jan | cs |
dc.contributor.author | Komora, Mojmír | cs |
dc.contributor.referee | Mach, Jindřich | cs |
dc.date.accessioned | 2019-04-03T22:28:53Z | |
dc.date.available | 2019-04-03T22:28:53Z | |
dc.date.created | 2016 | cs |
dc.description.abstract | Táto bakalárska práca sa zaoberá experimentálnou prípravou a analýzou ultratenkých vrstiev železných phtalocyaninov na povrchu kremíkových substrátov s cieľom popísania parametrov vrstiev pri rôznych podmienkách depozície, ako depozičný čas alebo teplota substrátu. Príprava vzoriek prebiehala pomocou metódy MBE vo vakouvej aparatúre za podmienok ultravysokého vákua. Ako analytické metódy na popis chemického zloženia a morfológie pripravených vrstiev boli zvolené metódy röntgenovej fotoelektrónovej spektroskopie, rastrovacej elektrónovej mikroskopie a mikroskopie atomárnych síl. | cs |
dc.description.abstract | This bachelor thesis deals with an experimental preparation and analysis of ultra thin films of iron phtalocyanines on silicon substrates with goal to describe parameters of films prepared under different conditions, e.g deposition time or substrate temperature. Preparation of samples was done using MBE method under conditions of ultrahigh vacuum in vacuum chamber. Analysis of chemical composition and morfology of prepared films was done with methods of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Scanning Electron Microscopy and Atomic Force Microscopy, respectively. | en |
dc.description.mark | A | cs |
dc.identifier.citation | KOMORA, M. Organické materiály pro molekulární kvantové bity: depozice a analýza chemického složení a morfologie vrstev [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2016. | cs |
dc.identifier.other | 92118 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/61068 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | Phtalocyanin | cs |
dc.subject | qubit | cs |
dc.subject | rast tenkých vrstiev | cs |
dc.subject | XPS | cs |
dc.subject | AFM | cs |
dc.subject | SEM | cs |
dc.subject | MBE | cs |
dc.subject | UHV | cs |
dc.subject | Phtalocyianine | en |
dc.subject | qubit | en |
dc.subject | thin fim growth | en |
dc.subject | XPS | en |
dc.subject | AFM | en |
dc.subject | SEM | en |
dc.subject | MBE | en |
dc.subject | UHV | en |
dc.title | Organické materiály pro molekulární kvantové bity: depozice a analýza chemického složení a morfologie vrstev | cs |
dc.title.alternative | Organic materials for molecular quantum bits: deposition and chemical and morphological analysis | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | bachelorThesis | en |
dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2016-06-22 | cs |
dcterms.modified | 2016-06-24-09:02:19 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
sync.item.dbid | 92118 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2021.11.12 17:10:14 | en |
sync.item.modts | 2021.11.12 16:40:41 | en |
thesis.discipline | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
thesis.level | Bakalářský | cs |
thesis.name | Bc. | cs |