Pracoviště pro dynamické testování solárních článků
but.committee | prof. Ing. Radimír Vrba, CSc. (předseda) doc. Ing. Ivan Szendiuch, CSc. (místopředseda) Ing. Karel Pospíšil (člen) doc. Ing. Pavel Šteffan, Ph.D. (člen) Ing. Jiří Starý, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Otázky oponenta 1) Do jakých hodnot napětí v propustném směru se u solárních článků uplatňuje bariérová kapacita na přechodu PN? 2) Z jakých parametrů a jakou přesností je možné odvodit dobu života minoritních nosičů náboje? Otázky komise - Jaké je praktické použití navrhovaného testeru dynamických parametrů? | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Boušek, Jaroslav | cs |
dc.contributor.author | Hanák, Kamil | cs |
dc.contributor.referee | Hégr, Ondřej | cs |
dc.date.accessioned | 2018-10-21T20:40:23Z | |
dc.date.available | 2018-10-21T20:40:23Z | |
dc.date.created | 2009 | cs |
dc.description.abstract | Předkládaná práce se zabývá metodou pro testování fotovoltaických solárních článků pomocí přechodových dějů. Napětí na článku v propustném i v závěrném směru bylo řízeno pomocí proudových impulsů. Ze záznamu přechodových dějů pomocí digitálního osciloskopu lze snadno určit skutečnou hodnotu průrazného napětí článku a přesnou hodnotu sériového odporu článku. Porovnáním časových konstant určených z časové odezvy článku na budící impulsy v propustném směru lze odhadnout dobu života minoritních nosičů v objemu polovodiče. | cs |
dc.description.abstract | This work deals with method for characterization of photovoltaic solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients. The voltage of the cell in both forward and reverse polarisation was controlled by current pulse exciting. Real reverse breakdown voltage and exact value of serial resistance of the cell can be obtained easily by evaluation of the transient curves recorded by digital osciloscope. By negotiation of the time constants of the cell response to excitation in forward polarisation the lifetime of minority carriers in semiconductor bulk can be estimated. | en |
dc.description.mark | A | cs |
dc.identifier.citation | HANÁK, K. Pracoviště pro dynamické testování solárních článků [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009. | cs |
dc.identifier.other | 22859 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/7410 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | Fotovoltaický článek | cs |
dc.subject | bariérová kapacita | cs |
dc.subject | difuzní kapacita | cs |
dc.subject | sériový a paralelní odpor solárního článku | cs |
dc.subject | doba života minoritních nosičů | cs |
dc.subject | snižující měnič | cs |
dc.subject | Photovoltaic cells | en |
dc.subject | barrier capacity | en |
dc.subject | diffusion capacity | en |
dc.subject | serial and parallel resistance of solar cells | en |
dc.subject | minority carrier lifetime | en |
dc.subject | step-down converter | en |
dc.title | Pracoviště pro dynamické testování solárních článků | cs |
dc.title.alternative | Worpllace for dynamic testring of solar cells. | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | masterThesis | en |
dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2009-06-08 | cs |
dcterms.modified | 2009-07-07-11:45:34 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 22859 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2021.11.10 14:14:29 | en |
sync.item.modts | 2021.11.10 13:25:39 | en |
thesis.discipline | Mikroelektronika | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav mikroelektroniky | cs |
thesis.level | Inženýrský | cs |
thesis.name | Ing. | cs |