Kontrola osazených DPS s SMT komparační metodou

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Hejdiš, Roman

Mark

E

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

V prvej časti práca pojednáva o AOI systémoch, typoch systémov, ich využití a dôležitosti v priemyselnej výrobe. Druhá časť je venovaná realizácii jednoduchého komparačného systému. Bol odskúšaný vplyv okolitého svetla na záznam fotografie DPS a taktiež bolo použité umelé osvetlenie. Boli naznačené problémy pri osvetlení DPS a jej uchytenia. Na konci je diskusia venovaná niektorým technickým problémom tejto jednoduchej komparačnej metódy.
The first part of the bachelor´s thesis discuss AOI, types of AOI, its utilization and importance in the industrial production. The second part is devoted to realization of simple comparative inspection method. There were testing effects of ambient light to record photographs of PCB and also artificial light was used. There was problems indication of PCB lit and PCB fixturing. At last, there are discussed some technical problems of this simple comparative method.

Description

Citation

HEJDIŠ, R. Kontrola osazených DPS s SMT komparační metodou [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

sk

Study field

Mikroelektronika a technologie

Comittee

prof. Ing. Jaromír Kadlec, CSc. (předseda) Ing. Ondřej Sajdl, Ph.D. (místopředseda) Ing. Miroslav Zatloukal (člen) Ing. Zdenka Rozsívalová (člen) doc. Ing. Jiří Háze, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2009-06-11

Defence

Student seznámil státní zkušební komisi se zadáním, zpracováním a výsledky své bakalářské práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. Otázky u obhajoby: Jaký je přínos? Jak by se mohlo pokračovat?

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO