but.committee	prof. Ing. Stanislav Hanus, CSc. (předseda) doc. Ing. Jaroslav Láčík, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Aleš Povalač, Ph.D. (člen) doc. Ing. Jiří Blumenstein, Ph.D. (člen) Ing. Filip Záplata, Ph.D. (člen) prof. Ing. Stanislav Zvánovec, Ph.D. (člen) doc. Ing. Ján Gamec, CSc. (člen)	cs
but.defence	Student prezentuje výsledky a postupy řešení své diplomové práce. Následně odpovídá na dotazy vedoucího a oponenta práce a na dotazy členů zkušební komise.	cs
but.jazyk	čeština (Czech)
but.program	Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Povalač, Aleš	cs
dc.contributor.author	Kyselý, Tomáš	cs
dc.contributor.referee	Dušek, Martin	cs
dc.date.created	2017	cs
dc.description.abstract	Tato práce pojednává o testovací stanici ve společnosti NXP Semiconductors, pobočkou v Rožnově pod Radhoštěm. Popisuje nejprve samotnou testovací stanici a její možnosti při testování softwarových knihoven. Poté popisuje automatický selftest této stanice a jeho dílčí kroky. Práce má sloužit také jako dokumentace k selftestu pro vnitřní účely firmy.	cs
dc.description.abstract	Work discusses about the test station in NXP Semiconductors Company in Rožnov pod Radhoštěm. It describes first the test station itself and its possibilities in software libraries testing. Second it describes automatic selftest of this station and sub-steps of this selftest. This work is also used as a documentation for company needs. KEYWORDS	en
dc.description.mark	B	cs
dc.identifier.citation	KYSELÝ, T. Selftest pro automatický průmyslový tester [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2017.	cs
dc.identifier.other	102429	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/65272
dc.language.iso	cs	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	Self-test	cs
dc.subject	testovací stanice	cs
dc.subject	National Instruments	cs
dc.subject	PXI šasi	cs
dc.subject	PXI modul	cs
dc.subject	FPGA	cs
dc.subject	LabVIEW	cs
dc.subject	Self-test	en
dc.subject	test station	en
dc.subject	National Instruments	en
dc.subject	PXI chassis	en
dc.subject	PXI module	en
dc.subject	FPGA	en
dc.subject	LabVIEW	en
dc.title	Selftest pro automatický průmyslový tester	cs
dc.title.alternative	Self-Test for Automatic Industrial Tester	en
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	masterThesis	en
dc.type.evskp	diplomová práce	cs
dcterms.dateAccepted	2017-06-06	cs
dcterms.modified	2024-05-17-12:51:42	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií	cs
sync.item.dbid	102429	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2025.03.26 13:27:01	en
sync.item.modts	2025.01.15 18:49:05	en
thesis.discipline	Elektronika a sdělovací technika	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav radioelektroniky	cs
thesis.level	Inženýrský	cs
thesis.name	Ing.	cs

Selftest pro automatický průmyslový tester

Files

Original bundle

Collections