Samočinný test ALU za provozu
but.committee | doc. Ing. Zdeněk Kotásek, CSc. (předseda) prof. Ing. Miroslav Švéda, CSc. (místopředseda) doc. Ing. Vladimír Drábek, CSc. (člen) doc. Ing. Peter Chudý, Ph.D., MBA (člen) Prof. Ing. Jaromír Krejčíček, CSc. (člen) doc. Mgr. Adam Rogalewicz, Ph.D. (člen) | cs |
but.defence | Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se pak seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další doplňující dotazy členů komise. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené dotazy rozhodla práci hodnotit stupněm "C". Otázky u obhajoby: Na straně 17 píšete: "Abychom byli schopni docílit jakési úrovně odolnosti proti poruchám..." Otázka zní: Lze měřit úroveň odolnosti proti poruchám, a pokud ano, jak? Na straně 4 zmiňujete "metodické hledisko pro testovací strategie". Jaké je "metodické hledisko"? | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Informační technologie | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Drábek, Vladimír | cs |
dc.contributor.author | Bednář, Jaroslav | cs |
dc.contributor.referee | Růžička, Richard | cs |
dc.date.created | 2010 | cs |
dc.description.abstract | Práce se zabývá různými poruchami, které mohou nastat při výrobě a provozu ALU. Nastiňuje vícero dělení poruch a jejich modely. Jsou rozebrány přístupy k zajištění bezpečnosti systému zejména po hardwarové stránce. Následuje shrnutí softwarových metod pro testování ALU. Poslední kapitola rozebírá návrh knihovny pro testy mikrokontroléru MSP430. | cs |
dc.description.abstract | This work deals with faults, errors and failures, which can occur during manufacturing and long term operation. Work describes the various failures and fault models. There are some approaches to get fault tolerant systems, mainly in hardware. The thesis continues with a summary of methods for ALU software testing. The last chapter is about tests generation for microcontroller MSP430. | en |
dc.description.mark | C | cs |
dc.identifier.citation | BEDNÁŘ, J. Samočinný test ALU za provozu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. 2010. | cs |
dc.identifier.other | 35097 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/54319 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | ALU | cs |
dc.subject | aritmeticko-logická jednotka | cs |
dc.subject | porucha | cs |
dc.subject | chyba | cs |
dc.subject | test | cs |
dc.subject | modely poruch | cs |
dc.subject | mikrokontrolér. | cs |
dc.subject | ALU | en |
dc.subject | arithmetic logic unit | en |
dc.subject | fault | en |
dc.subject | error | en |
dc.subject | defect | en |
dc.subject | test | en |
dc.subject | fault models | en |
dc.subject | microcontroller. | en |
dc.title | Samočinný test ALU za provozu | cs |
dc.title.alternative | ALU Built-In Self Test | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | masterThesis | en |
dc.type.evskp | diplomová práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2010-06-22 | cs |
dcterms.modified | 2020-05-09-23:42:29 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta informačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 35097 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2025.03.26 14:48:54 | en |
sync.item.modts | 2025.01.17 10:42:15 | en |
thesis.discipline | Počítačové systémy a sítě | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. Ústav počítačových systémů | cs |
thesis.level | Inženýrský | cs |
thesis.name | Ing. | cs |