Příprava ultratenkých vrstev SiN
but.committee | prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) doc. RNDr. Josef Kuběna, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen) | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Aplikované vědy v inženýrství | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Mach, Jindřich | cs |
dc.contributor.author | Dvořák, Martin | cs |
dc.contributor.referee | Voborný, Stanislav | cs |
dc.date.created | 2011 | cs |
dc.description.abstract | Tato bakalářská práce je zaměřena na realizaci, testování a kalibrování efuzní cely poskytující atomární svazky Si o termální energii (0,1 - 1 eV). Tyto svazku jsou užity k přípravě ultratenkých vrstev Si a SiN. Je zpracována rešeršní studie dosavadních poznatků o nitridu křemíku a jeho aplikaci v polovodičovém průmyslu. Dále byly provedeny první experimenty s depozicemi ultratenkých vrstev Si a SiN. Tyto vrstvy byly analyzovány metodami rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS) a mikroskopie atomárních sil (AFM). | cs |
dc.description.abstract | This bachelor´s thesis deals with design, testing and calibration of an effussion cell generating silicon atomic beam having thermal energy (0,1 - 1 eV). These beams are used for the preparation of Si and SiN ultrathin films. Silicon nitride and its applications in semiconductor industry are reviewed. First experiments with deposition of ultrathin films of Si and SiN are described. These layers have been analyzed by x-ray photoelectron spektroscopy (XPS) and atomic force microscopy (AFM). | en |
dc.description.mark | B | cs |
dc.identifier.citation | DVOŘÁK, M. Příprava ultratenkých vrstev SiN [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2011. | cs |
dc.identifier.other | 38696 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/1201 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | SiN | cs |
dc.subject | růst ultratenkých vrstev | cs |
dc.subject | efuzní cela | cs |
dc.subject | UHV | cs |
dc.subject | MBE | cs |
dc.subject | SiN | en |
dc.subject | growth ultra thin layers | en |
dc.subject | effusion cell | en |
dc.subject | UHV | en |
dc.subject | MBE | en |
dc.title | Příprava ultratenkých vrstev SiN | cs |
dc.title.alternative | Preparation of SiN ultrathin films | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | bachelorThesis | en |
dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2011-06-21 | cs |
dcterms.modified | 2011-07-16-10:45:09 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta strojního inženýrství | cs |
sync.item.dbid | 38696 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2025.03.26 00:15:09 | en |
sync.item.modts | 2025.01.17 13:43:07 | en |
thesis.discipline | Fyzikální inženýrství a nanotechnologie | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrství | cs |
thesis.level | Bakalářský | cs |
thesis.name | Bc. | cs |
Files
Original bundle
1 - 3 of 3
Loading...
- Name:
- final-thesis.pdf
- Size:
- 1.79 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- final-thesis.pdf
Loading...
- Name:
- appendix-1.rar
- Size:
- 126.74 KB
- Format:
- Unknown data format
- Description:
- appendix-1.rar
Loading...
- Name:
- review_38696.html
- Size:
- 10.08 KB
- Format:
- Hypertext Markup Language
- Description:
- file review_38696.html