Webová služba pro analýzu výsledků měření polovodičových součástek
| but.committee | doc. Dr. Ing. Dušan Kolář (předseda) prof. Ing. Martin Drahanský, Ph.D. (místopředseda) Ing. Vladimír Bartík, Ph.D. (člen) Ing. Josef Strnadel, Ph.D. (člen) Ing. Igor Szőke, Ph.D. (člen) | cs |
| but.defence | Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se pak seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm " C ". Otázky u obhajoby: Proč je rozhraní třídy WaferMapJr tajné a nemůže být v práci stručně popsáno? Používáte zabezpečené připojení na server? Pokud ano, proč se o tom v textu nezmiňujete? | cs |
| but.jazyk | čeština (Czech) | |
| but.program | Informační technologie | cs |
| but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
| dc.contributor.advisor | Kočí, Radek | cs |
| dc.contributor.author | Střálka, Jan | cs |
| dc.contributor.referee | Peringer, Petr | cs |
| dc.date.created | 2013 | cs |
| dc.description.abstract | Cílem této bakalářské práce je navrhnout a implementovat softwarový systém pro zvýšení výstupní kvality distribuovaných čipů pomocí vyřazování potenciálně vadných čipů. Projekt je zpracován pro firmu ON Semiconductor, výrobce polovodičů v Rožnově pod Radhoštěm. Software je psaný v Javě a architektura je založena na modulech s algoritmy, které se aplikují na mapy výsledků měření polovodičových součástek (wafer mapy). Zpracovávání běží na aplikačním serveru Tomcat, aplikace je řízena přes rozhraní webové služby. | cs |
| dc.description.abstract | The aim of the bachelor thesis is to design and implement software system for increase the output quality of the distributed chips by phasing out potentially defective chips. This project is designed for ON Semiconductor, manufacturer of semiconductors in Rožnov pod Radhoštěm. The software is written in Java and the architecture is based on the modules with algorithms that are applied to measurements map of semiconductor devices (wafer maps). The system runs on Tomcat application server, and the application is managed via web service interface. | en |
| dc.description.mark | C | cs |
| dc.identifier.citation | STŘÁLKA, J. Webová služba pro analýzu výsledků měření polovodičových součástek [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. 2013. | cs |
| dc.identifier.other | 79607 | cs |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/52880 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií | cs |
| dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
| dc.subject | Java | cs |
| dc.subject | web service | cs |
| dc.subject | polovodiče | cs |
| dc.subject | defektivita čipů | cs |
| dc.subject | Java | en |
| dc.subject | web service | en |
| dc.subject | semiconductor | en |
| dc.subject | chip defectivity | en |
| dc.title | Webová služba pro analýzu výsledků měření polovodičových součástek | cs |
| dc.title.alternative | Web Service for Analysis of Measurement Results of Semiconductor Circuit Elements | en |
| dc.type | Text | cs |
| dc.type.driver | bachelorThesis | en |
| dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
| dcterms.dateAccepted | 2013-06-10 | cs |
| dcterms.modified | 2020-05-10-16:11:25 | cs |
| eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta informačních technologií | cs |
| sync.item.dbid | 79607 | en |
| sync.item.dbtype | ZP | en |
| sync.item.insts | 2025.03.18 17:57:30 | en |
| sync.item.modts | 2025.01.16 00:19:41 | en |
| thesis.discipline | Informační technologie | cs |
| thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. Ústav inteligentních systémů | cs |
| thesis.level | Bakalářský | cs |
| thesis.name | Bc. | cs |