Šumová diagnostika PN přechodu usměrňovacích diod

Loading...
Thumbnail Image
Date
ORCID
Mark
C
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstract
Práce se zabývá návrhem měřící aparatury pro měření šumu mikroplazmy. Šum mikroplazmy vzniká v defektních částech PN přechodu. Cílem této práce je navrhnout měřící aparaturu a realizovat funkční pracoviště pro měření šumu mikroplazmy, provést měření šumu mikroplazmy a zjistit přenosovou funkci měřící aparatury. Jde především o zvolení vhodných měřících přístrojů, naprogramování programu pro automatizované měření. Poté o zpracování změřených časových průběhů šumu mikroplazmy, výpočty středních hodnot délek impulzů šumu mikroplazmy, zjištění závislosti tohoto šumu na napětí a výpočet spektrální výkonové hustoty. Dalším cílem je zjištění přenosové funkce měřící aparatury a navržení inverzního filtru.
The thesis deals with the design of the measurement installation, which is intended for the microplasma noise measurements. This noise is being generated in the defective parts of the PN junction. The goal of this work is to design the measurement installation and to realize the fully functional workbench for the analogical noise related measurements and to determine the transfer function of the measurement installation. Main part of the work is to choose proper parameters for the measuring devices and to design the software intended for the automated measurements. Consequently, we have to process the measured waveforms of the microplasma noise, to determine the dependency of the noise on the signal magnitude and to calculate the power spectral noise density. Finally, we have to determine the transfer function of the measurement installation and to design the inversion filter.
Description
Citation
KLIMÍČEK, J. Šumová diagnostika PN přechodu usměrňovacích diod [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2008.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Telekomunikační a informační technika
Comittee
doc. Ing. Karel Burda, CSc. (předseda) doc. Ing. Kamil Říha, Ph.D. (místopředseda) Ing. Pavel Hanák, Ph.D. (člen) Ing. Jaromír Hrad, Ph.D. (člen) doc. Ing. Rastislav Róka, Ph.D. (člen) Ing. Radim Číž, Ph.D. (člen) Ing. Filip Janovič (člen)
Date of acceptance
2008-06-10
Defence
Jakým způsobem byla zvolena velikost snímacího rezistoru RZ = 1.8 k? a při jakých napětích se typicky šum mikroplazmy u vysoko napěťových diod vyskytuje? Jaký je důvod provádění precizní rekonstrukce tvaru šumu mikroplazmy v časové oblasti? Student správně zodpověděl položené dotazy.
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena
Document licence
Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení
DOI
Collections
Citace PRO