Selektivní růst GaN na SiN

but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (místopředseda) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Jiří Komrska, CSc. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (člen) prof. Ing. Ivan Křupka, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Pavel Zemánek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencecs
but.jazykčeština (Czech)
but.programAplikované vědy v inženýrstvícs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorMach, Jindřichcs
dc.contributor.authorHulva, Jancs
dc.contributor.refereeKolíbal, Miroslavcs
dc.date.accessioned2019-04-03T22:34:03Z
dc.date.available2019-04-03T22:34:03Z
dc.date.created2012cs
dc.description.abstractTato bakalářská práce se zabývá selektivním růstem gallia a gallium nitridu na substrátech nitridu křemíku. Depozicí nízkoenergiových dusíkových iontů je na křemíkovém substrátu vytvořena vrstva nitridu křemíku (SiN). Na této vrstvě jsou litografickou metodou lokální anodické oxidace (LAO) připraveny oxidové struktury. Tyto substráty mohou být dále modifikovány odleptáním oxidových struktur kyselinou fluorovodíkovou. Modifikované substráty jsou použity pro depozici gallia nebo gallium nitridu v podmínkách ultravysokého vakua. Poté je studováno uspořádávání deponovaného materiálu v oblastech povrchů modifikovaných LAO. Chemické složení vrstev je studováno pomocí rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) a úhlově závislé XPS (AR-XPS), morfologie povrchů je měřena pomocí mikroskopu atomárních sil (AFM).cs
dc.description.abstractThis bachelor's thesis deals with the selective growth of gallium and gallium nitride on silicon nitride (SiN) substrates. Thin silicon nitride layers are deposited on silicon substrates. Oxide structures are prepared by the local anodic oxidation method (LAO) on SiN substrates. These surfaces can be editionally modified by etching in hydrofluoric acid. Modified substrates are used for the deposition of gallium or gallium nitride under ultra-high vacuum conditions. Consequently, ordering of deposited material was studied in areas modified by LAO. Chemical state of layers is studied by X-ray photoelectron spectroscopy. Morphology of surfaces is measured by the atomic force microscope (AFM).en
dc.description.markAcs
dc.identifier.citationHULVA, J. Selektivní růst GaN na SiN [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2012.cs
dc.identifier.other51326cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/9839
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectgallium nitridcs
dc.subjectgalliumcs
dc.subjectselektivní růstcs
dc.subjectlokální anodická oxidacecs
dc.subjectnitridace Sics
dc.subjectnitrid křemíkucs
dc.subjectGaNcs
dc.subjectLAOcs
dc.subjectSiNcs
dc.subjectXPScs
dc.subjectgallium nitrideen
dc.subjectgalliumen
dc.subjectselective growthen
dc.subjectlocal anodic oxidationen
dc.subjectnitridation of Sien
dc.subjectsilicon nitrideen
dc.subjectGaNen
dc.subjectLAOen
dc.subjectSiNen
dc.subjectXPSen
dc.titleSelektivní růst GaN na SiNcs
dc.title.alternativeSelective growth of GaN on SiNen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2012-06-19cs
dcterms.modified2012-06-20-13:42:26cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid51326en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2021.11.12 19:06:30en
sync.item.modts2021.11.12 17:56:19en
thesis.disciplineFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
9.03 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_51326.html
Size:
9.35 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
review_51326.html
Collections