Testování úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Kurzov, Kirill

Mark

A

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství

ORCID

Abstract

Tato práce se zabývá testováním úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody. Návrhem programu pro měření teploty s pomocí senzoru typu RTD, který je součástí desky, pomocí termočlánku a vnějšího sensoru PT100. Kód je naprogramován za účelem optimalizace měřicího cyklu. Pomocí optimalizace lze minimalizovat spotřebu elektrické energie.
This thesis deal with testing of low power microcontroller with integrated analog circuits. It describes the program for measurement with RTD, which is a part of the printed circuit board, thermocouple and external PT100 sensor. The code is writen with an optimization of a measure circuit due to minimisation of the current consumption.

Description

Citation

KURZOV, K. Testování úsporného mikrokontroléru s integrovanými analogovými obvody [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2016.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Mechatronika

Comittee

prof. Ing. Vítězslav Hájek, CSc. (předseda) doc. Ing. Stanislav Věchet, Ph.D. (místopředseda) doc. Dr. Ing. Kazimierz Peszynski (člen) doc. Ing. Zdeněk Hadaš, Ph.D. (člen) doc. Ing. Tomáš Profant, Ph.D. (člen) Ing. Lukáš Březina, Ph.D. (člen) Ing. Zdeněk Majer, Ph.D. (člen) doc. Ing. Pavel Vorel, Ph.D. (člen) doc. Ing. Vladislav Singule, CSc. (člen)

Date of acceptance

2016-06-20

Defence

Student prezentoval výsledky své práce na dobré technické úrovni.

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO