Skener rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí

but.committeeprof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc. (předseda) prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D. (člen) doc. Mgr. Vlastimil Křápek, Ph.D. (člen) doc. Ing. Miroslav Bartošík, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Petr Dub, CSc. (člen) prof. RNDr. Bohumila Lencová, CSc. (člen) prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc. (člen) prof. Ing. Miroslav Kolíbal, Ph.D. (člen) prof. RNDr. Radim Chmelík, Ph.D. (člen) doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D. (člen) RNDr. Antonín Fejfar, CSc. (člen)cs
but.defencePo otázkách oponenta bylo diskutováno Piezoelektrické materiály. Student na otázku odpověděl.cs
but.jazykčeština (Czech)
but.programFyzikální inženýrství a nanotechnologiecs
but.resultpráce byla úspěšně obhájenacs
dc.contributor.advisorPavera, Michalcs
dc.contributor.authorKrupa, Matyášcs
dc.contributor.refereeDostál, Zbyněkcs
dc.date.created2022cs
dc.description.abstractTato práce se zabývá návrhem konstrukce skeneru rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí. První část práce je zaměřena na teorii jako princip mikroskopie atomárních sil, charakteristiku funkce skeneru a jeho vlastností. V druhé částí je popsán postupný vývoj nového mikroskopu. Nejdříve jsou představeny mechanické simulace používané k určení vlastností skenerů. Dále se práce věnuje samotnému návrhu nejdříve pro osy x, y a následně i pro osu z. Na závěr je představen výsledný návrh trojosého skeneru s vyšší rezonanční frekvencí.cs
dc.description.abstractThe thesis deals with the design of the scanning probe microscopy scanner with a higher resonant frequency. The first part of the thesis is focused on theory as the principle of atomic force microscopy, function of the scanner and its properties. The second part describes the gradual development of a new microscope. The mechanical simulations used to determine the properties of scanners are introduced first. Furthermore, the thesis deals with the design for the x, y axis and then also for the z axis. In conclusion, the final design of a three-axis scanner with a higher resonant frequency is presented.en
dc.description.markBcs
dc.identifier.citationKRUPA, M. Skener rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencí [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2022.cs
dc.identifier.other139597cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/205879
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrstvícs
dc.rightsStandardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezenícs
dc.subjectSPMcs
dc.subjectAFMcs
dc.subjectpiezokeramikacs
dc.subjectpiezo skenercs
dc.subjectSPMen
dc.subjectAFMen
dc.subjectpiezoceramicsen
dc.subjectpiezo scanneren
dc.titleSkener rastrovací sondové mikroskopie s vysokou rezonanční frekvencícs
dc.title.alternativeScanning probe microscopy scanner with high resonant frequencyen
dc.typeTextcs
dc.type.driverbachelorThesisen
dc.type.evskpbakalářská prácecs
dcterms.dateAccepted2022-06-15cs
dcterms.modified2022-06-15-14:16:30cs
eprints.affiliatedInstitution.facultyFakulta strojního inženýrstvícs
sync.item.dbid139597en
sync.item.dbtypeZPen
sync.item.insts2025.03.26 08:12:24en
sync.item.modts2025.01.17 09:53:07en
thesis.disciplinebez specializacecs
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. Ústav fyzikálního inženýrstvícs
thesis.levelBakalářskýcs
thesis.nameBc.cs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 2 of 2
Loading...
Thumbnail Image
Name:
final-thesis.pdf
Size:
6.12 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
final-thesis.pdf
Loading...
Thumbnail Image
Name:
review_139597.html
Size:
10.77 KB
Format:
Hypertext Markup Language
Description:
file review_139597.html
Collections