Elektronový ray tracer

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Suchánek, Jan

Mark

B

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií

ORCID

Abstract

Tato práce se věnuje simulaci elektronového mikroskopu. Spojuje poznatky z metod sledování paprsků a realistického zobrazování s fyzikálními poznatky z oblasti elektronové mikroskopie. Cílem práce je vytvořit funkční a co nejvěrnější simulátor skenovacího elektronového mikroskopu s kvalitním výstupem v úměrně rychlém čase. Přínos práce spočívá v získání dostatečného množství obrazového materiálu pro další zpracování, především v oblasti strojového učení, ale i pro usnadnění vývoje aplikací mikroskopu pro post-processsing. V současné době se obrázky získávají z reálného systému a ručně anotují.
This thesis is pointed on simulation of electron microscope. It uses knowledge  from ray-tracing methods and physically based rendering with physics of electron microscopy. The main object of this thesis is to create realistic simulator for electron microscope which can generate satisfying realistic images. This output can be used for another research in range of machine learning or microscope application development. This method should replace long and more expensive way of getting test images from real system for those research activities.

Description

Citation

SUCHÁNEK, J. Elektronový ray tracer [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. 2019.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Počítačová grafika a multimédia

Comittee

doc. RNDr. Pavel Smrž, Ph.D. (předseda) doc. Ing. Martin Čadík, Ph.D. (místopředseda) Ing. Michal Hradiš, Ph.D. (člen) Ing. Zbyněk Křivka, Ph.D. (člen) Ing. Libor Polčák, Ph.D. (člen) doc. Ing. Marián Šimko, Ph.D. (člen)

Date of acceptance

2019-06-17

Defence

Student nejprve prezentoval výsledky, kterých dosáhl v rámci své práce. Komise se poté seznámila s hodnocením vedoucího a posudkem oponenta práce. Student následně odpověděl na otázky oponenta a na další otázky přítomných. Komise se na základě posudku oponenta, hodnocení vedoucího, přednesené prezentace a odpovědí studenta na položené otázky rozhodla práci hodnotit stupněm B. Otázky u obhajoby: Proč jste pro zdroj elektronů použil kameru a pro detektor použil světlo? Dalo by se to teoreticky udělat jinak? Co by k tomu bylo potřeba? Simulujete nějakým způsobem optiku mikroskopu? Jakým způsobem simulujete povrch modelu?

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO