but.jazyk	čeština (Czech)
but.program	Výpočetní technika a informatika	cs
but.result	práce byla úspěšně obhájena	cs
dc.contributor.advisor	Kotásek, Zdeněk	cs
dc.contributor.author	Stareček, Lukáš	cs
dc.contributor.referee	Gramatová, Elena	cs
dc.contributor.referee	Kubátová, Hana	cs
dc.date.created		cs
dc.description.abstract	Tato práce se zabývá možností optimalizace testu číslicových obvodů pomocí multifunkčních logických hradel. Nejdůležitější částí práce je vysvětlení samotného principu optimalizace, který je popsán také formálními matematickými prostředky. Na základě tohoto popisu je v práci prezentováno několik možností využití. Ukázána je optimalizace testovatelnosti obdobná metodě vkládání testovacích bodů a jednoduchá metodika založena na základě SCOAP. Těžištěm práce je však metodika, která byla vytvořena pro optimalizaci testu obvodu. Ta byla implementována v podobě softwarových nástrojů. V práci jsou následně prezentovány výsledky použití těchto nástrojů na úloze snížení počtu testovacích vektorů se zachováním pokrytí poruch pro různé obvody včetně testovací sady ISCAS 85. Část práce je věnována také různým principům a technologiím tvorby multifunkčních logických hradel. Některá vybraná hradla z těchto technologií jsou podrobena simulacím elektronických vlastností ve SPICE. Na základě principů prezentované metodiky a výsledků simulací multifunkčních hradel je také provedena analýza a rozbor různých problémů jako je platnost testu modifikovaného obvodu a vhodnost jednotlivých technologií multifunkčních hradel pro danou metodiku. Výsledky analýz a provedených experimentů je potvrzeno, že pomocí multifunkčních hradel lze optimalizovat diagnostické vlastnosti obvodu takovým způsobem, aby došlo k požadovaným úpravám parametrů výsledných testů obvodů při minimálních dopadech na kvalitu a věrohodnost těchto testů.	cs
dc.description.abstract	This thesis deals with the possibilities of digital circuit test optimization using multifunctional logic gates. The most important part of this thesis is the explanation of the optimization principle, which is also described by a formal mathematical apparatus. Based on this apparatus, the work presents several options. The optimization of testability analogous to inserting test points and simple methodology based on SCOAP is shown. The focus of work is a methodology created to optimize circuit tests. It was implemented in the form of software tools. Presented in this work are the results of using these tools to reduce the test vectors volume while maintaining fault coverage on various circuits, including circuits from the ISCAS 85 test set. Part of the work is devoted to the various principles and technology of creating multifunctional logic gates. Some selected gates of these technologies are subject to simulations of electronic properties in SPICE. Based on the principles of presented methodology and results of multifunctional gates simulations, analysis of various problems such as validity of the modified circuit test and the suitability of each multifunctional gate technology for the methodology was also made. The results of analysis and experiments confirm it is possible for the multifunctional logic gate to optimize circuit diagnostic properties in such a way that has achieved the required circuit test parameter modification with minimum impact on the quality and credibility of these tests.	en
dc.description.mark	P	cs
dc.identifier.citation	STAREČEK, L. Optimalizace testu digitálního obvodu multifunkčními prvky [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. .	cs
dc.identifier.other	99793	cs
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11012/63267
dc.language.iso	cs	cs
dc.publisher	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií	cs
dc.rights	Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení	cs
dc.subject	číslicový obvod	cs
dc.subject	testovací vektory	cs
dc.subject	optimalizace testu	cs
dc.subject	multifunkční hradla	cs
dc.subject	polymorfní hradla	cs
dc.subject	digital circuit	en
dc.subject	test vectors	en
dc.subject	test optimization	en
dc.subject	multifunctional gates	en
dc.subject	polymorphic gates	en
dc.title	Optimalizace testu digitálního obvodu multifunkčními prvky	cs
dc.title.alternative	Digital circuits test optimization by multifunctional components	en
dc.type	Text	cs
dc.type.driver	doctoralThesis	en
dc.type.evskp	dizertační práce	cs
dcterms.modified	2020-05-10-17:46:39	cs
eprints.affiliatedInstitution.faculty	Fakulta informačních technologií	cs
sync.item.dbid	99793	en
sync.item.dbtype	ZP	en
sync.item.insts	2025.03.27 12:18:50	en
sync.item.modts	2025.01.15 21:41:39	en
thesis.discipline	Výpočetní technika a informatika	cs
thesis.grantor	Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií. Ústav počítačových systémů	cs
thesis.level	Doktorský	cs
thesis.name	Ph.D.	cs

Optimalizace testu digitálního obvodu multifunkčními prvky

Files

Original bundle

Collections