Optimalizace nastavení měřicího systému pro sledování dielektrických vlastností kapalných izolantů

Loading...
Thumbnail Image

Date

Authors

Novák, Lukáš

Mark

B

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií

ORCID

Abstract

Předkládaná práce se zabývá problematikou využití LCR metrů Agilent v diagnostice izolačních materiálů a optimalizací nastavení měřicího systému pro sledování dielektrických vlastností kapalných izolantů. Z měřené veličiny a chyby měření je vyjádřena nejistota měření.
Submitted work deals with problems of using LCR meters Agilent in diagnostics of insulating materials and optimization of measurement system settings for monitoring dielectric properties if liquid insulators. From measured physical value and measurement error measurement uncertainty is expressed.

Description

Citation

NOVÁK, L. Optimalizace nastavení měřicího systému pro sledování dielektrických vlastností kapalných izolantů [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2008.

Document type

Document version

Date of access to the full text

Language of document

cs

Study field

Mikroelektronika a technologie

Comittee

prof. Ing. Karel Bartušek, DrSc. (předseda) doc. Ing. Marie Sedlaříková, CSc. (místopředseda) Ing. Milan Recman, CSc. (člen) Ing. Karel Pospíšil (člen) Ing. Jiří Špinka (člen)

Date of acceptance

2008-06-12

Defence

Student seznámil státní zkušební komisi s podstatnou částí své závěrečné práce a zodpověděl otázky a připomínky oponenta. 1) Uveďte a stručně charakterizujte jednotlivé skupiny chyb. 2) Uveďte, které skupiny zdrojů zohledňujeme při řešení nejistoty měření typů B a které vlivy do jednotlivých skupin patří. Jak se určí výsledná nejistota typu B?

Result of defence

práce byla úspěšně obhájena

DOI

Collections

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Citace PRO