Nejistoty a kompatibilita měření
but.committee | prof. Dr. Ing. Alexandr Štefek, Dr. (předseda) doc. Ing. Petr Blaha, Ph.D. (místopředseda) doc. Ing. Zdeněk Bradáč, Ph.D. (člen) Ing. Marie Havlíková, Ph.D. (člen) Ing. Radek Štohl, Ph.D. (člen) Ing. Soběslav Valach (člen) | cs |
but.defence | Student obhájil bakalářskou práci. | cs |
but.jazyk | čeština (Czech) | |
but.program | Elektrotechnika, elektronika, komunikační a řídicí technika | cs |
but.result | práce byla úspěšně obhájena | cs |
dc.contributor.advisor | Havlíková, Marie | cs |
dc.contributor.author | Kvapil, Josef | cs |
dc.contributor.referee | Zavřel, Jiří | cs |
dc.date.created | 2009 | cs |
dc.description.abstract | Tato práce se zabývá problematikou nejistot měření při měření odporů a indukčností. Dále se věnuje zpracováním obecných postupů pro určení nejistot měření s použitím měřicích přístrojů Agilent 4263B, Tesla BM507 a Tesla BM591 u zmíněných druhů měření. Bakalářská práce popisuje možné zdroje nejistot, které se mohou vyskytnout u těchto přístrojů. Popisuje rovněž praktické příklady měření s etalonem odporu a indukčnosti se zmíněnými měřicími přístroji a následně vyhodnocuje kompatibilitu těchto měření. | cs |
dc.description.abstract | This work is concerning the matter of resistor and inductance measurement uncertainty. It addresses the elaboration of general measurement uncertainty processes for the measurements mentioned above using Agilent 4263B, Tesla BM507 and Tesla BM591 measurement instruments. This bachelor’s thesis describes possible sources of measurement uncertainty that might arise from the use of these measurement instruments. It also describes practical examples of resistivity and induction standard measurement projects using these measurement instruments followed by a compatibility evaluation of these measurements. | en |
dc.description.mark | A | cs |
dc.identifier.citation | KVAPIL, J. Nejistoty a kompatibilita měření [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009. | cs |
dc.identifier.other | 21480 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11012/13636 | |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
dc.rights | Standardní licenční smlouva - přístup k plnému textu bez omezení | cs |
dc.subject | Nejistoty měření | cs |
dc.subject | zdroje nejistot | cs |
dc.subject | kompatibilita měření | cs |
dc.subject | měření odporu | cs |
dc.subject | měřeni indukčnosti | cs |
dc.subject | Agilent 4263B | cs |
dc.subject | Tesla BM507 | cs |
dc.subject | Tesla BM591. | cs |
dc.subject | Uncertainty measurement | en |
dc.subject | sources of uncertainty | en |
dc.subject | compatibility measurement | en |
dc.subject | resistivity measurement | en |
dc.subject | inductance measurement | en |
dc.subject | Agilent 4263B | en |
dc.subject | Tesla BM507 | en |
dc.subject | Tesla BM591. | en |
dc.title | Nejistoty a kompatibilita měření | cs |
dc.title.alternative | Uncertainty and Compatibility in Measurement | en |
dc.type | Text | cs |
dc.type.driver | bachelorThesis | en |
dc.type.evskp | bakalářská práce | cs |
dcterms.dateAccepted | 2009-06-16 | cs |
dcterms.modified | 2024-05-17-12:54:07 | cs |
eprints.affiliatedInstitution.faculty | Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií | cs |
sync.item.dbid | 21480 | en |
sync.item.dbtype | ZP | en |
sync.item.insts | 2025.03.16 13:10:40 | en |
sync.item.modts | 2025.01.17 11:52:29 | en |
thesis.discipline | Automatizační a měřicí technika | cs |
thesis.grantor | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav automatizace a měřicí techniky | cs |
thesis.level | Bakalářský | cs |
thesis.name | Bc. | cs |