Microscopic optoelectronic defectoscopy of solar cells

Simple item page
dc.contributor.authorŠkarvada, Pavelcs
dc.contributor.authorTománek, Pavelcs
dc.contributor.authorKoktavý, Pavelcs
dc.contributor.authorSobola, Dinaracs
dc.coverage.issue1cs
dc.coverage.volume48cs
dc.date.issued2013-05-03cs
dc.description.abstractScanning probe microscopes are powerful tool for micro- or nanoscale diagnostics of defects in crystalline silicon solar cells. Solar cell is a large p-n junction semiconductor device. Its quality is strongly damaged by the presence of defects. If the cell works under low reverse-biased voltage, defects emit a light in visible range. The suggested method combines three different measurements: electric noise measurement, local topography and near-field optical beam induced current and thus provides more complex information. To prove its feasibility, we have selected one defect (truncated pyramid) in the sample, which emitted light under low reverse-biased voltage.en
dc.description.abstractRastrovací sondová mikroskopie je výrazným nástrojem mikro a nanoskopické diagnostiky defektů v solárních článcích. Ty jsou velkými polovodičovými součástkami s pn přechodem. Jejich kvalita je silně ovlivněna přítomností defektů, které jsou viditelné při zapojení článku v závěrném směru. Navrhovaná metoda kombinuje tři různá měření - měření elektrického šumu, lokální optickou topografii a měření indukované fotoproudu v blízkém poli. Tím je dosaženo komplexnější informace. K ověření postupu jsme zvolili jeden defekt (zkosená pyramida), které v závěrném režimu vyzařuje světlo při slabém přiloženém napětí.cs
dc.formattextcs
dc.format.extent1-4cs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.identifier.citationEPJ Web of Conferences. 2013, vol. 48, issue 1, p. 1-4.en
dc.identifier.doi10.1051/epjconf/20134800026cs
dc.identifier.issn2100-014Xcs
dc.identifier.orcid0000-0002-8059-7761cs
dc.identifier.orcid0000-0002-9015-485Xcs
dc.identifier.orcid0000-0002-0008-5265cs
dc.identifier.other99870cs
dc.identifier.researcheridE-2230-2012cs
dc.identifier.researcheridG-1175-2019cs
dc.identifier.scopus6506697214cs
dc.identifier.scopus57189064262cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/193661
dc.language.isoencs
dc.publisherEDP Sciencescs
dc.relation.ispartofEPJ Web of Conferencescs
dc.relation.urihttps://www.epj-conferences.org/articles/epjconf/abs/2013/09/epjconf_OAM2012_00026/epjconf_OAM2012_00026.htmlcs
dc.rightsCreative Commons Attribution 2.0 Genericcs
dc.rights.accessopenAccesscs
dc.rights.sherpahttp://www.sherpa.ac.uk/romeo/issn/2100-014X/cs
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by/2.0/cs
dc.subjectsolar cellen
dc.subjectdefecten
dc.subjectnoiseen
dc.subjecttopographyen
dc.subjectinduced photocurrenten
dc.subjectsolární článek
dc.subjectdefekt
dc.subjectšum
dc.subjecttopografie
dc.subjectindukovaný fotoproud
dc.titleMicroscopic optoelectronic defectoscopy of solar cellsen
dc.title.alternativeMikroskopická optoelektronická defektoskopie solárních článkůcs
dc.type.driverarticleen
dc.type.statusPeer-revieweden
dc.type.versionpublishedVersionen
sync.item.dbidVAV-99870en
sync.item.dbtypeVAVen
sync.item.insts2025.02.03 15:40:24en
sync.item.modts2025.01.17 16:45:24en
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. Ústav fyzikycs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
epjconf_OAM2012_00026.pdf
Size:
1.56 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
epjconf_OAM2012_00026.pdf
Download
Collections
Ústav fyziky