NOVÉ PRINCIPY CHARAKTERIZACE HRADLOVÝCH KAPACIT PRO SIGMA-DELTA MODULÁTORY
Loading...
Date
Authors
Sutorý, Tomáš
Advisor
Referee
Mark
P
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
ORCID
Abstract
V předkládané disertační práci se autor zabývá využitím nových způsobů charakterizace hradlových kapacit použitelných pro realizaci sigma-delta modulátorů, jež jsou nedílnou součástí sigma-delta analogově digitálních převodníků. Navržená nová metoda charakterizace se vyznačuje vysokým rozlišením a nenáročností na vybavení měřicího pracoviště. Umožňuje rovněž charakterizaci v rozsahu kapacit používaných v sigma-delta modulátorech. Práce obsahuje jak popis vlastní metody, tak rozbor přesnosti měření a rovněž výsledky experimentů.
This thesis deals with the utilization of new principles of characterization of gate capacitances for sigma-delta modulators. Sigma-delta modulators are the integral part of sigma-delta analog-to-digital converters. The proposed new method is characterized by high resolution and modest requirements for laboratory equipment. It allows characterizing capacitances whose values are within the range which is used in sigma-delta modulators. The thesis contains description of the new method, the analysis of measurement accuracy and experimental results.
This thesis deals with the utilization of new principles of characterization of gate capacitances for sigma-delta modulators. Sigma-delta modulators are the integral part of sigma-delta analog-to-digital converters. The proposed new method is characterized by high resolution and modest requirements for laboratory equipment. It allows characterizing capacitances whose values are within the range which is used in sigma-delta modulators. The thesis contains description of the new method, the analysis of measurement accuracy and experimental results.
Description
Keywords
Sigma-delta modulátor , technologie CMOS , MOS kondenzátor , nelineární kondenzátor , napěťová závislost , Q-U charakteristika , linearizace , charakterizace , CBCM metoda , měření kapacity , přesnost měření , sériová a paralelní kompenzace , stejnosměrné předpětí , výrobní masky , testovací čip , proudový mód , spínané kondenzátory , spínané proudy. , Delta-Sigma modulator , CMOS technology , MOS capacitor , non-linear capacitor , voltage dependency , Q-V characteristic , linearization , characterization , CBCM method , capacitance measurement , measurement accuracy , serial and parallel compensation , DC bias , productive masks , test-chip , current mode , switched capacitors , switched currents.
Citation
SUTORÝ, T. NOVÉ PRINCIPY CHARAKTERIZACE HRADLOVÝCH KAPACIT PRO SIGMA-DELTA MODULÁTORY [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2009.
Document type
Document version
Date of access to the full text
Language of document
cs
Study field
Elektronika a sdělovací technika
Comittee
prof. Ing. Aleš Prokeš, Ph.D. (předseda)
prof. Ing. Čestmír Vlček, CSc. (člen)
Doc. Dr. Ing. Josef Lazar (člen)
prof. Dr. Ing. Zdeněk Kolka (člen)
prof. Ing. Otakar Wilfert, CSc. (člen)
Prof. Ing. Daniela Ďuračková, CSc. - oponent (člen)
Prof. Ing. MIroslav Husák, CSc. - oponent (člen)
Date of acceptance
2009-11-27
Defence
Result of defence
práce byla úspěšně obhájena