Methods for topography artifacts compensation in scanning thermal microscopy

Simple item page
dc.contributor.authorMartinek, Jancs
dc.contributor.authorKlapetek, Petrcs
dc.contributor.authorCharvátová Campbell, Annacs
dc.coverage.issue1cs
dc.coverage.volume155cs
dc.date.accessioned2021-08-30T21:53:57Z
dc.date.available2021-08-30T21:53:57Z
dc.date.issued2015-08-01cs
dc.description.abstractThermal conductivity contrast images in scanning thermal microscopy (SThM) are often distorted by artifacts related to local sample topography. Three methods for numerically estimating and compensating for topographic artifacts are compared in this paper: a simple approach based on local sample geometry at the probe apex vicinity, a neural network analysis and 3D finite element modeling of the probe–sample interaction. A local topography and an estimated probe shape are used as source data for the calculation in all these techniques; the result is a map of false conductivity contrast signals generated only by sample topography. This map can be then used to remove the topography artifacts from measured data.en
dc.description.abstractData získaná při měření tepelné vodivosti pomocí skenovacího termálního mikroskopu jsou často zkreslena z důvodu drsnosti vzorku. V tomto článku jsou rozebrány tři metody pro numerickou kompenzaci takto vzniklých artefaktů: jednoduchý model založený na objemu materiálu v okolí hrotu, dále využití neuronové sítě a třetí metodou je simulace interakce hrotu a vzorku pomocí FEM. Topografie vzorku a tvar hrotu představují vstupní data pro všechny tři metody. Výsledkem výpočtu je mapování vlivu topografie na termální signál, což lze využít pro odstranění artefaktů z naměřených dat.cs
dc.formattextcs
dc.format.extent55-61cs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.identifier.citationUltramicroscopy. 2015, vol. 155, issue 1, p. 55-61.en
dc.identifier.doi10.1016/j.ultramic.2015.04.011cs
dc.identifier.issn0304-3991cs
dc.identifier.other114643cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11012/201148
dc.language.isoencs
dc.publisherElseviercs
dc.relation.ispartofUltramicroscopycs
dc.relation.urihttps://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399115000959cs
dc.rightsCreative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internationalcs
dc.rights.accessopenAccesscs
dc.rights.sherpahttp://www.sherpa.ac.uk/romeo/issn/0304-3991/cs
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/cs
dc.subjectScanning thermal microscopyen
dc.subjectArtifactsen
dc.subjectNeural networksen
dc.subjectskenovací termální mikroskopie
dc.subjectartefakty
dc.subjectneuronová síť
dc.titleMethods for topography artifacts compensation in scanning thermal microscopyen
dc.title.alternativeMetody pro kompenzaci topografických artefaktů u skenovací termální mikroskopiecs
dc.type.driverarticleen
dc.type.statusPeer-revieweden
dc.type.versionpublishedVersionen
sync.item.dbidVAV-114643en
sync.item.dbtypeVAVen
sync.item.insts2021.08.30 23:53:57en
sync.item.modts2021.08.30 22:49:31en
thesis.grantorVysoké učení technické v Brně. Fakulta stavební. Ústav fyzikycs
Files
Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
1s2.0S0304399115000959main.pdf
Size:
3.7 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
1s2.0S0304399115000959main.pdf
Download
Collections