Studium vlastností kovových tenkých vrstev a nanostruktur pomocí rastrovací sondové mikroskopie

Abstract

Diplomová práce je zaměřena na studium vlastností tenkých kovových vrstev a nanostruktur pomocí rastrovací sondové mikroskopie. Studovány jsou magnetické vlastnosti, a to pomocí mikroskopie magnetických sil, což je jedna z modifikací rastrovací sondové mikroskopie. V teoretické části jsou shrnuty základní principy rastrovací sondové mikroskopie a mikroskopie magnetických sil a také princip vzniku magnetických domén a jistých vlastností feromagnetických a antiferomagnetických materiálů. Dále jsou zde popsány dvě techniky výroby nanostruktur. Experimentální část je zaměřena na zobrazování a simulaci magnetických domén. Dále je tato část zaměřena na studium jevu exchange bias, který je přítomen v systémech tvořených antiferomagnetickými a feromagnetickými materiály. Součástí této diplomové práce je i diskuze problémů spojených s technikou mikroskopie magnetických sil.

This diploma thesis is focused on investigation of metallic thin films and nanostructures using scanning probe microscopy. Magnetic properties of these objects are studied by magnetic force microscopy, which is modification of scanning probe microscopy. In the theoretical part basic principles of scanning probe microscopy and magnetic force microscopy are summarized, and also principle of creation of magnetic domains and some special properties of ferromagnetic and antiferromagnetic materials. Further, two techniques of fabricating nanostructures are described. Experimental part is focused on imaging and simulating of magnetic domains. Further, exchange bias is revealed. This phenomenon is present in systems composed from ferromagnetic and antiferromagnetic materials. One part of this diploma thesis is also focused on discussion of problems with magnetic force microscopy.