ČERNEK, O. Využití speciálního optického vlákna v komoře elektronového mikroskopu [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství. 2019.

Posudek vedoucího

Pavera, Michal

Předkládaná bakalářská práce pojednává o zavedení speciálního optického vlákna do komory elektronového mikroskopu a jeho současného využití v technikách SNOM a GIS. Jedná se o značně komplexní a originální úkol kombinace několika fyzikálních technik, který sebou nesl i mnoho technických problémů. Bylo například potřeba provést řadu mechanických úprav zakládací komory elektronového mikroskopu za účelem zavedení sondového mikroskopu a speciálního optického vlákna. Musela být také upravena aparatura pro zavedení laserového svazku a plynu do optického vlákna. Autorem navržené úpravy byly realizovány a úspěšně otestovány. Pan Ondřej Černek si při vypracování počínal samostatně a cílevědomě. Velice oceňuji i jeho nasazení a svědomitost při řešení dílčích problémů u kterých vždy dospěl k úspěšnému řešení. Text předložené bakalářské práce je logicky uspořádán a grafická i stylistická stránka je na vysoké úrovni. Všechny body zadání a požadavky byly splněny a věřím, že na základě této práce bude možné jednoduše navázat při dalším vývoji. Bakalářskou práci doporučuji k obhajobě a hodnotím ji klasifikačním stupněm A.

Posudek oponenta

Konečný, Martin

Student Ondřej Černek se ve své bakalářské práci věnuje konstrukční úpravě zakládací komory elektronového mikroskopu VEGA (TESCAN) umožňující instalaci mikroskopu atomárních sil (AFM) VT UHV SPM a LiteScope od firmy NenoVision. V rámci zadání práce byla navržena a sestavena nová dvířka zakládací komory a následně byla úspěšně otestována součinnost obou mikroskopů. Dalším cílem práce byla instalace a otestování aparatury umožňující zavedení speciálního dutého optického vlákna do komory elektronového mikroskopu. V kombinaci s mikroskopem LiteScope by pak bylo možné optické vlákno přesně navigovat v blízkosti povrchu vzorku a využít ho mimo jiné k měření 3D topografie. Dohromady tak vzniká unikátní a komplexní zařízení umožňující současné pozorování SEM, měření AFM topografie spolu s možností lokálního přivedení světelného záření a plynů. Optické vlákno navíc nemusí sloužit pouze k osvitu, ale i ke sběru záření vznikajícího na povrchu vzorku. Z těchto důvodů se téma práce jeví jako vysoce zajímavé a získané výsledky jsou bezesporu velmi cenné. První část práce představuje stručný ale výstižný úvod do elektronové, rastrovací sondové mikroskopie a do fyziky a techniky vakua. Čtenářovi jsou tak podány základní informace nutné k zorientování se v dané problematice. Druhá část práce se zabývá konstrukčním návrhem a sestavením speciálních dvířek zakládací komory SEM a aparatury umožňující připojení optického vlákna. Konstrukční řešení je velice srozumitelně popsáno, stejně tak jako je jasně vysvětlena volba jednotlivých materiálů a použitých komerčně dostupných součástí. V poslední, třetí části, se Ondřej Černek zabývá testováním celého zařízení. Za tímto účelem byly ozkoušeny různé způsobu uchycení optického vlákna na křemennou ladičku, sloužícím jako hrot sondy k měření topografie vzorku. Všemi testovanými způsoby bylo dosaženo uspokojivého změření topografie kalibrační mřížky. Dále byla testována i plynová propustnost dutých optických vláken připojených k SEM mikroskopu pomocí sestavené zaváděcí aparatury. V tomto případě nebyla, dle mého názoru, propustnost prozatím dostatečně prokázána. Nicméně to bude určitě předmětem dalšího zkoumání, jak je i v práci nastíněno. Ondřej Černek při práci na svém bakalářském projektu prokázal bezpochyby obrovskou trpělivost, píli a manuální zručnost a množství odvedené práce jde vysoko nad rámec běžných bakalářských prací. Celá práce je velice pěkně a srozumitelně sepsána. Jako výjimečné dále hodnotím i samotné grafické zpracování. Práci bez jakýchkoli výtek a pochybností navrhuji k obhajobě a hodnotím ji známkou A.

eVSKP id 117686